За последние годы метод спектрофотометрии нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) получил широкое распространение в практике научных исследований. В книге рассмотрены преимущества метода НПВО по сравнению с классическими методами пропускания и обычного отражения. Обсуждены возможности метода применительно к решению большого круга задач в области физики, химии, в различных областях техники, в биологии и т. д. Приводятся примеры как уже осуществленных, так и возможных приложений метода к изучению структуры поверхности массивных тел и тонких пленок, и в частности поверхностных свойств полупроводников. Рассмотрены приложения метода в области изучения полимеров, повеерхностных соединений, химических реакций, адгезии, адсорбции и т. д. Книга представляет большой интерес для специалистов-спектроскопистов, работающих в различных областях науки и техники, физиков, биологов.

Во втором издании (1-е изд. - 1987 г.) обобщены и систематизированы данные по широкому спектру физико-химических свойств более 500 молекулярных неорганических соединений. Рассмотрены наиболее достоверные методы расчета свойств, позволяющие прогнозировать физико-химические величины с точностью, близкой к экспериментальной. Применение расчетных методов иллюстрируется примерами. Для химиков всех специальностей и металлургов, а также преподавателей, студентов и аспирантов химических и металлургических вузов.

В монографии обобщены результаты исследований автора и его коллег из Отдела аналитической химии функциональных материалов и объектов окружающей среды НТК "Институт монокристаллов" НАН Украины в области аналитической химии неорганических функциональных материалов для новейших отраслей современной науки и техники. Обсуждены принципы метрологического обеспечения аналитического контроля функциональных материалов (ФМ). Рассмотрены методы подготовки материалов к анализу, в частности, предложенные автором и его коллегами методы вскрытия тугоплавких веществ при помощи комплексообразующих реагентов, а также получения стекловидных, квазитвердых и пленочных излучателей для рентгенофлуоресцентного анализа, методы предварительного концентрирования микрокомпонентов, Наибольшее внимание уделено различным вариантам кристализационного концентрирования, предложенным и детально изученным автором и его сотрудниками. Обсуждены методы анализа ФМ при помощи атомной спектрометрии, включая атомно-эмиссионную, атомно-абсорбционную и рентегнофлуоресцентную спектрометрию, а также рентгеноспектральный микроанализ. Рассмотрены методы анализа вольтамперометрии, кулонометрии газообразующих примесей, ионометрии. Обсуждены возможности вещественного анализ ФМ. Заключительный раздел книги посвящен использованию результатов анализа для решения фундаментальных и прикладных проблем материаловедения.

Данный справочник предназначен для химиков, биологов, экологов. В справочнике приведены свойства для 10063 органических, неорганических и элементоорганических веществ, в том числе даны ссылки на методики синтеза для 921 вещества, приведены около 800 значения показателей кислотности кислот, значения скорости звука в веществе для 36 веществ, термодинамические свойства для 1635 веществ, 178 значений параметров веществ в кристаллическом состоянии, количественная растворимость примерно для 2300 веществ.