| 31 |
|
Хроматография. Практическое приложение метода : в 2-х ч.
: = Chromatography. — М.: Мир, 1986. — 335 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — 1.50.
|
| 32 |
|
Металловедение и термическая обработка стали : справочник в трех томах / под ред.: М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. — 3-е изд., перераб. и доп.
: Методы испытаний и исследования. — М.: Металлургия, 1983. — 352 с.: ил. — Библиогр. в конце глав; Предм. указ.: с. 348-352. — 50.00.
Третье издание (второе - в 1962 г.) переработано и дополнено материалами, отражающими современные достижения науки. В первом томе изложены методики современного металловедческого анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, микрорентгеноспектрального. Оже-спектрографии, мессбауэровского и других способов исследования строения металлов и сплавов. Приведены основные положения статистической обработки экспериментальных результатов. Для инженерно-технических и научных работников предприятий, лабораторий и научно-исследовательских организаций различных отраслей промышленности.
|
| 33 |
|
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: научное издание / Р. Ф. Эгертон ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2010. — 304 с.: цв.ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 297-300; Предм. указ.: с. 223-228. — ISBN 978-5-94836-254-0: 583.22.
Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии. Книга предназначена для студентов старших курсов, которые хотели бы углубить свои знания об основных физических принципах микроскопии, для молодых специалистов, которые пользуются электронными микроскопами, а также для преподавателей вузов и исследователей.
|
| 34 |
|
Металловедение и термическая обработка стали : справочник ; в трех томах / под ред.: М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. — 4-е изд., перераб. и доп.
:. — М.: Металлургия, 1991. — 304 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-229-00795-8: 0.47.
Четвертое издание, как и третье (1983 г.), состоит из трех томов (каждый из которых - в двух книгах). В книге первой первого тома изложены методики современного металлографического анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, рентгеноспектроскопического, микрорентгеноспектрального, нейтроноструктурного. Даны конкретные рекомендации осуществления этих методик, оценена эффективность их применения. Приведены методы математического планирования, обработки данных и оценки точности результатов. Сообщаются сведения о строении и свойствах элементов. Для инженерно-технических работников и специалистов предприятий и научно-исследовательских организаций металлургической и машиностроительной промышленности.
|
| 35 |
|
Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ. / МГУ им. М. В. Ломоносова, Научно-образовательных центр по нанотехнологиям; под ред. Нан Яо, Чжун Лин Ван, науч. ред. И. В. Яминский. — М.: Научный мир, 2011. — 711, [1] с.: ил. — (Фундаментальные основы нанотехнологий : справочники). — На корешке авт. : Нан Яо, Чжун Лин Ван. — Предм. указ.: с. 702-711. — Библиогр.: с. 692-693. — ISBN 978-5-91522-232-7: 1376.00.
Книга посвящена современным методам микроскопии, технике измерений и литографии на наномасштабе. В книге рассмотрены основные экспериментальные методы конфокальной оптической микроскопии, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой микроскопии, ионной и электронной микроскопии, рентгеновской спектроскопии, зондовой и электронной литографии и др. В книге изложены основные принципы работы методов микроскопии, области их применения, приведены многочисленные примеры их использования. Разделы книги написаны и переведены учёными с мировым именем - ведущими специалистами в области микроскопии и нанотехнологии.
|