Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 16 - 20 из 1315 для dc.subject any/relevant "ГИСТОХИМИЯ ЭЛЕК ... ( 0.210 сек.)

16
Влияние ионной имплантации на тонкую структуру покрытия на основе системы NiAl, сформированного методом магнетронного напыления: научное издание / М. В. Федорищева [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Томский государственный архитектурно-строительный университет (Томск) // Труды симпозиума. — 2010. — . — С. 282-285.
Фазовый состав, тонкая структура интерметаллических покрытий исследована методами электронной микроскопии, рентгеноструктурного анализа. Показано, что интерметаллид Ni3Al является основной фазой покрытия для всех исследованных образцов. Ионная имплантация покрытия ионами алюминия и бора приводит к изменению параметра решетки, параметра дальнего атомного порядка, изменению внутренних упругих напряжений, размеров зерен и типа дислокационной структуры.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
17
Особенности пластической деформации и разрушения сплава V-4Ti-4Cr-(C, N , O) с дисперсным упрочнением при разных температурах: научное издание / И. А. Дитенберг [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Известия высших учебных заведений. Физика : Ежемесячный научный журнал / Министерство образования и науки Российской Федерации. Федеральное агентство по образованию. Томский госуниверситет. — 2015. — Том58, N2 . — С. 58-64. — ISSN 0021-3411.
Методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии в сплаве V-4Ti-4Cr-(C, N, О) с дисперсным (наноразмерными частицами оксикарбонитридной фазы) упрочнением проведено исследование дефектной субструктуры и особенностей разрушения после деформации методом активного растяжения при температурах 20 и 800 °С. Показано, что важными особенностями деформации при повышенной температуре являются, во-первых, активизация зернограничных механизмов деформации и разрушения, во-вторых, явление локализации деформации с переориентацией кристаллической решетки. Обсуждаются причины этих особенностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
18
Egerton, Ray.
Physical principles of electron microscopy: an introd. to TEM, SEM, a. AEM / R. F. Egerton. — New York: Springer, 2005. — XII,202 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr.: p. 195-196. — ISBN 978-0-387-25800-3: 180.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
19
Микрофлюидные системы для химического анализа / под ред. Ю. А. Золотова, В. Е. Курочкина. — М.: ФИЗМАТЛИТ, 2011. — 527 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-9221-1315-1: 792.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
20
Неволин, Владимир Кириллович.
Зондовые нанотехнологии в электронике / В. К. Неволин. — М.: Техносфера, 2005. — 152 с.: ил. — (Мир электроники). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-94836-054-7: 168.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи