71 |
|
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. под ред. В. В. Белошицкого. — М.: Мир, 1989. — 342, [2] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-03-001017-3: 3.70.
|
72 |
|
Аморфные полупроводники / М. Бродски [и др.] ; под ред. М. Бродски, пер. с англ. под ред. А. А. Андреева, В. А. Алексеева. — М.: Мир, 1982. — 419 с.: ил. — (Проблемы прикладной физики). — Предм. указ.: с. 415-416. — Библиогр. в конце глав. — 4.00.
|
73 |
|
Рост и морфология тонких пленок / В. И. Трофимов, В. А. Осадченко. — М.: Энергоатомиздат, 1993. — 272 с.: ил. — Библиогр.: с. 263-272. — ISBN 5-283-03861-0: 9300.00.
|
74 |
|
Физические основы электронной техники: учеб. для вузов по спец. "Электронные приборы" / С. А. Фридрихов, С. М. Мовнин. — М.: Высшая школа, 1982. — 608 с.: ил. — (Высшее образование). — Библиогр.: с. 605. — 1.70.
|
75 |
|
Оптика фотокатодов / В. Е. Кондрашов. — М.: Наука. Физматлит, 1976. — 207 с.: ил. — Библиогр.: с. 198-207. — 0.94.
|
76 |
|
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках / В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова. — М.: Наука, 1981. — 368 с.: ил. — (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов). — Библиогр.: с. 367-368. — 2.90.
|
77 |
|
Действие излучений на полупроводники / В. С. Вавилов, Н. П. Кекелидзе, Л. С. Смирнов. — М.: Наука, 1988. — 191 с.: ил. — Предм. указ.: с. 188. — Библиогр.: с. 180-181. — ISBN 5-02-013834-7: 1.20.
|
78 |
|
Автоионная микроскопия радиационных дефектов в металлах / А. Л. Суворов. — М.: Энергоиздат, 1982. — 167 с.: ил. — Библиогр.: с. 160-165. — 0.65.
|
79 |
|
Перенос электронов и дырок у поверхности полупроводников / В. Н. Добровольский, В. Г. Литовченко; АН УССР, Институт полупроводников. — Киев: Наукова думка, 1985. — 191 с.: ил. — Библиогр.: с. 175-191. — 2.40.
|
80 |
|
Поверхностные поляритоны в полупроводниках и диэлектриках / Н. Л. Дмитрук, В. Г. Литовченко, В. Л. Стрижевский; АН УССР, Институт полупроводников. — Киев: Наукова думка, 1989. — 374 с.: ил. — Библиогр.: с. 347-371. — ISBN 5-12-000503-9: 5.90.
|