| 41 |
|
Радиационные процессы в многокомпонентных материалах. Теория и компьютерное моделирование / Ю. В. Трушин; Рос. АН, Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе. — СПб.: Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе, 2002. — 384 с.: ил. — Библиогр.: с. 361-367. — ISBN 5-79890-204-8.
|
| 42 |
|
Исследования в области спектроскопии и квантовой электроники: тезисы докл. IX республ. конф. молодых ученых по спектроскопии и квантовой электроники, Паланга, 23-25 мая 1989 г. / АН ЛитССР, Институт физики, Вильнюсский университет. — Вильнюс: Институт физики АН ЛитССР, 1989. — 145 с.: ил. — Алф. указ.: с. 139-145. — 1.00. |
| 43 |
|
Связные модели физико-химических превращений в твердых средах с учетом деформирования и разрушения: дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07, 01.02.04 / А. Г. Князева; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск). — Томск, 1996. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 405-444.
|
| 44 |
|
Физика процессов у границ раздела: сб. науч. тр. / Ленинградский политех. ин-т им. М. И. Калинина; редкол. : Ю. С. Васильев (отв. ред.) [и др.]. — Л.: ЛПИ, 1985. — 108 с.: ил. — (Труды Ленинградского политехнического института им. М. И. Калинина). — Библиогр. в конце ст. — 2.31. |
| 45 |
|
Взаимодействие жидких кристаллов с поверхностью / М. Г. Томилин. — СПб.: Политехника, 2001. — 325 с.: ил. — Библиогр.: с. 314-320. — ISBN 5-7325-0531-8: 230.00.
|
| 46 |
|
Основы физики конденсированного вещества: научное издание / Н. Б. Делоне. — Москва: Физматлит, 2011. — 233 с.: ил.; 22 см. — Библиогр. в конце лекций. — ISBN 978-5-9221-1261-1: 528.00.
В книге кратко излагаются основы физики конденсированных сред, физики поверхности, являющейся одним из краеугольных камней столь модных сегодня нанотехнологий. При этом выдержан удачный баланс между экспериментом и теорией. Для теоретического объяснения экспериментальных данных широко использована квантовая физика. Четко прослежены общие свойства различных форм существования конденсированных сред. Обсуждаются переходные состояния между различными формами, а также основные физические законы, единые для всех форм вещества. Для студентов старших курсов университетов, а также аспирантов, молодых специалистов и инженеров.
|
| 47 |
|
Исследование поверхности по обратному рассеянию частиц / М. И. Рязанов, И. С. Тилинин. — М.: Энергоатомиздат, 1985. — 150 с.: ил. — Библиогр.: с. 143-148. — 1.80.
|
| 48 |
|
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
|
| 49 |
|
Нанокомпозиты: исследования, производство и применение: [материалы конф., Сочи, 2004 г.] / Нанокомпозиты (2004 ; 27.03.04-01.10.04 ; Сочи) ; под ред. А. А. Берлина, И. Г. Ассовского. — М.: Торус Пресс, 2004. — 224 с.: ил.; 21 см. — Рез. ст. англ., ч. текста англ. — Библиогр. в конце докл. ; Авт. указ.: с. 214-216. — ISBN 5-94588-028-0: 400.00.
Сборник содержит расширенные тезисы докладов, представленных на Международной научно-практической конференции по перспективным композиционным материалам (NC'04): "Нанокомпозиты-2004", г. Сочи, Россия, 27.03.04-01.10.04. Авторы статей являются международными экспертами в области научных исследований, производства и применения новых и перспективных композиционных материалов. Работы отражают современное состояние проблемы и выявляют наиболее перспективные направления в развитии материалов и технологий. Конференция была поддержана Международным научно-техническим центром (МНТЦ), Институтом химической физики им. Н. Н. Семенова РАН, Всероссийским институтом авиационных материалов (ВИАМ), Федеральным центром двойных технологий "Союз", Центральным научно-исследовательским институтом специального машиностроения (ЦНИИСМ), ОАО НПО "Искра" и Mach I, Inc.
|
| 50 |
|
Радиационная физика твердого тела: I международн. совещ. стран СЭВ : тезисы докладов (15-23 октября 1989 г., Сочи) / Московский ин-т электрон. машиностроения; редкол. : Г. Г. Бондаренко (отв. ред.) [и др.]. — М.: МИЭМ, 1989. — 140 с.: ил. — Библиогр. в конце тез. докл. — 0.70. |