Четвертое издание, как и третье (в 1983 г.), состоит из трех томов (каждый из которых в двух книгах). В книге второй первого тома рассмотрены физические методы исследования - тепловые, объемные, электрические, магнитные, мессбауэровская спектроскопия, радиоспектроскопия, а также методы испытания механических свойств и методики специальных испытаний. Цели и задачи металловедения как науки на современном уровне, определяющие содержание и построение данного справочника, отражены в итоговой главе (послесловии). Второй и третий тома справочника выйдут в свет в 1992-1993 гг. Для инженерно-технических работников и специалистов предприятий и научно-исследовательских организаций металлургической и машиностроительной промышленности.

В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.