| 1 |
|
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70.
|
| 2 |
|
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
|
| 3 |
|
XVIII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов / Рос. АН, Науч. совет по электронной микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии. — Черноголовка: Богородский печатник, 2000. — 338 с.: ил. — Авт. указ.: с. 331-338. — ISBN 5-89589-020-2: 76.80.
|
| 4 |
|
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.
|
| 5 |
|
Физическая электроника: сб. науч. тр. / Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина; отв. ред. К. П. Селезнев. — Л.: Ленинградский политехнический институт, 1977. — 124 с.: ил. — (Труды Ленинградского политехнического института им. М. И. Калинина). — Библиогр. в конце ст. — 1.00. |
| 6 |
|
Физическая электроника / Г. Ф. Олфрей ; пер. с англ. В. И. Гайдука. — М.: Мир, 1966. — 316 с.: ил. — Библиогр.: с. 303-308. — 1.25.
Книга посвящена физическим основам работы различных электронных приборов. После краткого исторического введения изложены основные сведения из атомной и молекулярной физики, теории кристаллов, полупроводников и диэлектриков. В весьма популярной форме, но достаточно строго трактуется физический смысл ряда сложных явлений и понятий современной физики (уравнение Шредингера, переходы между уровнями и т. д.). К числу рассмотренных электронных приборов относятся вакуумные лампы от триодов до СВЧ-устройств, газоразрядные приборы и полупроводниковые элементы. Отражены новые направления использования плазмы газового разряда—термоядерный синтез, магнитогидродинамические генераторы и электрические ракетные двигатели. В последней главе книги с позиций квантовой электроники описаны лазеры и мазеры. Книга может быть использована в качестве дополнительного пособия студентами физических и физико-технических факультетов университетов и втузов, она также представляет интерес для широкого круга читателей — инженеров и неспециалистов, которые хотят познакомиться с современным состоянием физики и практическими применениями, основанными на ее достижениях.
|
| 7 |
|
Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. — Б.м.: Мир, 1974. — 318 с.: ил. — Предм. указ.: с. 315-318. — Библиогр.: с. 296-299. — 1.66.
|
| 8 |
|
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
|
| 9 |
|
Журнал технической физики [Текст] / Рос. акад. наук, Отделение физических наук, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе. — 1931-. — М.; СПб.: Наука, 1931-. — Периодичность: 12 в год (ежемесячно). — Схема доступа: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/jtf. — ISSN 0044-4642. |
| 10 |
|
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: научное издание / Р. Ф. Эгертон ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2010. — 304 с.: цв.ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 297-300; Предм. указ.: с. 223-228. — ISBN 978-5-94836-254-0: 583.22.
Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии. Книга предназначена для студентов старших курсов, которые хотели бы углубить свои знания об основных физических принципах микроскопии, для молодых специалистов, которые пользуются электронными микроскопами, а также для преподавателей вузов и исследователей.
|