Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 91 - 100 из 9241 для dc.subject any/relevant "физика твердого ... ( 0.629 сек.)

91
Займан, Дж.
Принципы теории твердого тела / Дж. Займан ; пер. со 2-го англ. изд. под ред. В. Л. Бонч-Бруевича. — М.: Мир, 1974. — 472 с.: ил. — Предм. указ.: с. 465-469. — Библиогр.: с. 455-464. — 5.08.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
92
Добрецов, Леонтий Николаевич.
Эмиссионная электроника / Л. Н. Добрецов, М. В. Гомоюнова. — М.: Наука, 1966. — 564 с.: ил. — Предм. указ.: с. 559-564. — Библиогр.: с. 543-558. — 5.51.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
93
Гладков, Сергей Октябринович.
Физика пористых структур / С. О. Гладков ; Рос. АН, Ин-т химической физики им. Н. Н. Семенова. — М.: Наука, 1997. — 175 с.: ил. — ISBN 5-02-004446-6: 22.60.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
94
Уэрт, Ч. А.
Физика твердого тела: учеб. пособие для ун-тов и физ.-техн. вузов / Ч. А. Уэрт, Р. М. Томсон ; пер. с англ. А. С. Пахомова, Б. Д. Сумма, под. ред. С. В. Тябликова. — М.: Мир, 1966. — 567 с.: ил. — 2.50.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
95
Аут, И.
Фотоэлектрические явления / И. Аут, Д. Генцов, К. Герман ; пер. с нем. А. Н. Темчина, под ред. В. Л. Бонч-Бруевича. — М.: Мир, 1980. — 208 с.: ил. — Библиогр.: с. 199-206. — 0.80.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
96
Фелдман, Леонард.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. под ред. В. В. Белошицкого. — М.: Мир, 1989. — 342, [2] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-03-001017-3: 3.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
97
Вавилов, Виктор Сергеевич.
Действие излучений на полупроводники / В. С. Вавилов, Н. П. Кекелидзе, Л. С. Смирнов. — М.: Наука, 1988. — 191 с.: ил. — Предм. указ.: с. 188. — Библиогр.: с. 180-181. — ISBN 5-02-013834-7: 1.20.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
98
Неравновесные процессы в полупроводниках и диэлектриках. Физические науки: межвуз. сб. / Кишиневский гос. ун-т им. В. И. Ленина; редкол. : В. П. Мушинский (отв. ред.) [и др.]. — Кишинев: Штиинца, 1983. — 114 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
99
Уэрт, Чарлз.
Физика твердого тела / Ч. Уэрт, Р. Томсон ; пер. с англ. А. С. Пахомова, Б. Д. Сумма, под ред. С. В. Тябликова. — 2-е изд. — М.: Мир, 1969. — 558 с.: ил. — Предм. указ.: с. 548-553. — 2.47.
Настоящая книга представляет собой вводный курс физики твердого тела, охватывающий как основные представления теории, так и ее приложения к описанию физических свойств твердых тел и происходящих в них процессов. В книге отражены следующие вопросы: теория кристаллической решетки (включая роль дефектов, тепловые свойства, диффузию), необходимые сведения из атомной физики и квантовой механики и на этой основе - электронная теория твердого тела. Далее изложены применения этой теории к анализу электрических и магнитных свойств диэлектриков, ионных кристаллов, полупроводников и металлов. Книга написана простым и доступным языком с минимальным использованием математического аппарата; авторы умело и на современном уровне объясняют многие сложные и тонкие вопросы, опираясь на наглядные модельные представления. Книга может быть рекомендована в качестве дополнительного учебного пособия студентам университетов и физико-технических вузов, начинающим изучать физику твердого тела или отдельные ее разделы. Она будет полезна молодым специалистам и преподавателям этой дисциплины, а также научным работникам смежных с физикой областей науки, желающим ознакомиться с основными представлениями и методами физики твердого тела.??.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
100
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия: учеб. для студ. вузов, обуч. по спец. "Физика металлов", "Металловедение , оборудование и технология термической обработки металлов" / Я. С. Уманский [и др.]. — М.: Металлургия, 1982. — 630 с.: ил. — Библиогр.: с.628-630. — 1.40.
Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом. Учебник предназначен для студентов металлургических и политехнических вузов, специализирующихся в области металлофизики, металловедения и физико-химических исследований материалов. Может быть полезен инженерам исследователям, работающим в области металлофизики, физического металловедения и физико-химических исследований, технологии производства и обработки металлических материалов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи