| 1 |
|
Исследование поверхности по обратному рассеянию частиц / М. И. Рязанов, И. С. Тилинин. — М.: Энергоатомиздат, 1985. — 150 с.: ил. — Библиогр.: с. 143-148. — 1.80.
|
| 2 |
|
Физика твердого тела / Н. Ашкрофт, Н. Мермин ; пер. с англ. А. С. Михайлова, под ред. М. И. Каганова. — М.; : Мир.
:. — М.: Мир, 1979. — 400 с.: ил. — 6.00.
|
| 3 |
|
Современные методы исследования поверхности / Д. Вудраф, Т. Делчар ; пер. с англ. Е. Ф. Шек, под ред. В. И. Раховский. — М.: Мир, 1989. — 567, [1] с.: ил. — Библиогр.: с. 545-555. — ISBN 5-03-001129-3.
|
| 4 |
|
Взаимодействие атомных частиц с твердым телом. Компьютерное моделирование / В. А. Эльтеков. — М.: Издательство Московского университета, 1993. — 152 с.: ил. — Библиогр.: с. 121-151. — ISBN 5-211-01596-7: 100.00.
Монография посвящена актуальной проблеме, находящейся на стыке твердого тела и физической электроники, - проблеме изучения взаимодействия атомных частиц с твердым телом. Излагаются основные достижения, полученные в этой области методом компьютерного моделирования. Дается представление об уровне исследований, возможностях и проблемах компьютерного моделирования взаимодействия атомных частиц с твердым телом, а также об истории исследований в этой области. Для научных работников, преподавателей, аспирантов.
|
| 5 |
|
Полупроводники: сб. науч. тр. / Рос. АН, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. И. Г. Неизвестный. — Новосибирск: ИФП РАН, 1995. — 326 с.: ил. — ISBN 5-7623-1179-1: 10000.00. |
| 6 |
|
Автоионная микроскопия радиационных дефектов в металлах / А. Л. Суворов. — М.: Энергоиздат, 1982. — 167 с.: ил. — Библиогр.: с. 160-165. — 0.65.
|
| 7 |
|
Структура и свойства поверхностных атомных слоев металлов / А. Л. Суворов. — М.: Энергоатомиздат, 1989. — 296 с.: ил. — Библиогр.: с. 289-295. — ISBN 5-283-03731-2: 4.40.
|
| 8 |
|
Полупроводники / Р. Смит ; пер. с англ. под ред. Н. А. Пенина. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Мир, 1982. — 558 с.: ил. — Библиогр.: с. 200-207. — 2.70.
|
| 9 |
|
Взаимодействие заряженных частиц с твердыми телами / Ё.-Х. Оцуки ; пер. с англ. В. В. Белошицкого [и др.], под ред. М. А. Кумахова. — М.: Мир, 1985. — 277 с.: ил. — Предм. указ.: с. 273-275. — Библиогр. в конце глав. — 2.70.
|
| 10 |
|
Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия: учеб. для студ. вузов, обуч. по спец. "Физика металлов", "Металловедение , оборудование и технология термической обработки металлов" / Я. С. Уманский [и др.]. — М.: Металлургия, 1982. — 630 с.: ил. — Библиогр.: с.628-630. — 1.40.
Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанные на различных видах взаимодействия быстрых электронов с веществом. Учебник предназначен для студентов металлургических и политехнических вузов, специализирующихся в области металлофизики, металловедения и физико-химических исследований материалов. Может быть полезен инженерам исследователям, работающим в области металлофизики, физического металловедения и физико-химических исследований, технологии производства и обработки металлических материалов.
|