| 1 |
|
Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. — Б.м.: Мир, 1974. — 318 с.: ил. — Предм. указ.: с. 315-318. — Библиогр.: с. 296-299. — 1.66.
|
| 2 |
|
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-94836-064-4: 168.00.
|
| 3 |
|
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70.
|
| 4 |
|
Статистическая и динамическая электронная оптика: Теория фокусировки в линзах, отклоняющих устройствах и ускорителях / П. А. Стэррок ; пер. с англ. Э. Л. Бурштейна, под ред. М. Л. Левина. — М.: Издательство иностранной литературы, 1958. — 286 с.: ил. — 1.03.
|
| 5 |
|
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.
|
| 6 |
|
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
|
| 7 |
|
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
|
| 8 |
|
Экспериментальные исследования генерации жестких излучений в динамическом зет-пинча / В. И. Барышев, И. Я. Бутов, Ю. В. Матвеев; Сухумский физико-технический институт. — Сухуми: Физико-технический институт, 1981. — 32 с.: ил. — 0.15.
|
| 9 |
|
Интенсивные электронные и ионные пучки / С. И. Молоковский, А. Д. Сушков. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Энергоатомиздат, 1991. — 303 с.: ил. — Библиогр.: с. 293-300. — ISBN 5-283-03973-0: 4.00.
|
| 10 |
|
Интенсивные электронные и ионные пучки / С. И. Молоковский, А. Д. Сушков. — Л.: Энергия, 1972. — 271 с.: ил. — 1.32.
|