21 |
|
Автоионная микроскопия (принципы и применение) / Э. Мюллер, Т. Цонь ; пер. с англ. В. А. Алексеева [и др.], под ред. Л. П. Потапова. — М.: Металлургия, 1972. — 360 с.: ил. — Библиогр.: с. 354-360. — 2.54.
|
22 |
|
Введение в физику поверхности: переводное издание / К. Оура [и др.]. ; ред. В. И. Сергиенко; Дальневосточное отд-ние РАН, Ин-т автоматики и процессов управления. — М.: Наука, 2006. — 490 с.: ил. — Предм. указ.: с. 482-490. — Библиогр.: с. 464-481. — ISBN 5-02-034355-2: 212.00.
Книга посвящена физике поверхности. Она дает необходимую вводную информацию для исследователей, которые только начинают работать в данной области. Книга содержит все наиболее важные аспекты современной науки о поверхности от экспериментальной базы и основ кристаллографии до современных аналитических методов и их использования в изучении тонких пленок и наноструктур. Для специалистов в области физики поверхности, аспирантов, студентов старших курсов инженерных и физических специальностей.
|
23 |
|
Зеркальная рентгеновская оптика / А. В. Виноградов [и др.] ; под ред. А. В. Виноградова. — Л.: Машиностроение. Ленинградское отделение, 1989. — 462, [2] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-217-00598-X: 5.00.
|
24 |
|
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный анализ: [учеб. пособие для вузов по направлениям "Металлургия", "Физическое материаловедение"] / М. М. Криштал [и др.] ; под общ. ред. М. М. Криштала, рец.: А. М. Глезер, В. С. Кондратенко. — М.: Техносфера, 2009. — 206 с.: ил.; 22 см. — (Мир физики и техники). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-200-7: 330.31.
Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии, интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, аспирантов и студентов, повышающих свою квалификацию или обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением. Ее можно использовать как вводный курс для операторов или непосредственных пользователей санирующих электронных микроскопов. Книга также будет полезна специалистам, которым приходится ставить задачи, требующие применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
|
25 |
|
Взаимодействие электронных пучков средних энергий с сегнетоэлектрическими материалами / А. Г. Масловская, И. Б. Копылова. — Владивосток: Дальнаука, 2010. — 202, [1] с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 180-200. — ISBN 978-5-8044-1069-9: 154.00.
В монографии рассматриваются вопросы изучения различных аспектов взаимодействия электронного зонда с сегнетоэлектрическими материалами, а также возможности их использования для формирования изображений доменной структуры сегнетоэлектриков методами растровой электронной микроскопии. Приводятся результаты исследований инжекционных, радиационно-стимулированных и тепловых эффектов, возникающих в полярных диэлектриках при облучении электронами средних энергий. Описаны методы контроля процессов накопления и релаксации инжектированных зарядов в поверхностном слое сегнетоэлектриков. Представлены анализ и теоретическое обоснование новой аналитической методики электронного зондирования сегнетоэлектриков - режима электронно-стимулированных поляризационных токов. Рассматривается метод визуального наблюдения распределения по поверхности активности скачков Баркгаузена. Приведены результаты моделирования взаимодействия электронных пучков с активными материалами. Монография предназначена для специалистов, работающих в области сегнетоэлектричества, а также растровой электронной микроскопии.
|
26 |
|
Элементарные процессы при столкновении атомных и молекулярных частиц: межвуз. сборник науч. трудов / Чувашский гос. ун-т им. И. Н. Ульянова; отв. ред. А. И. Коротков. — Чебоксары: Чувашский государственный университет, 1987. — 131 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.20.
Экспериментальные и теоретические работы посвящены исследованию различных элементарных процессов, протекающих при столкновении электронов с атомами и молекулами. Элементарные процессы, протекающие при упругом и неупругом взаимодействии атомных частиц, исследовались в режиме электронной пушки и в условиях газоразрядной плазмы. Расчетные методы применены для анализа кинетики элементарных процессов при заселении и разрушении отдельных уровней применительно к усиливающей среде. Рассмотрены процессы многоступенчатого столкновения составных частиц и квантовое трение. Вычислены эффективные сечения многократной ионизации атомов инертных газов и др. Приведено описание оригинальных установок: многоканальный анализатор для исследования оптических и электронных спектров; автоматизированная установка с пересекающимися атомным, электронным и лазерным пучками; блок-схема для изучения процессов двухэлектронного возбуждения атомов Hg и He. Для студентов старших курсов, аспирантов и научных работников, специализирующихся в области оптики и спектроскопии, физики плазмы и квантовой электроники.
|
27 |
|
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов ; Рос. АН, Институт физики микроструктур; Институт физики микроструктур РАН. — М.: Техносфера, 2004. — 144 с.: ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 140-143. — ISBN 5-94836-034-2: 176.00.
|
28 |
|
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов; Рос. АН, Институт физики микроструктур. — М.: Техносфера, 2005. — 144 с.: ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 140-143. — ISBN 5-94836-034-2: 145.00.
Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур — от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
|
29 |
|
Физические свойства малых металлических частиц / С. А. Непийко; АН УССР, Институт физики. — Киев: Наукова думка, 1985. — 246 с.: ил. — Предм. указ.: с. 244-246. — Библиогр.: с. 224-243. — 3.10.
|
30 |
|
Связь диэлектрических свойств алюмонитридной керамики и пиронитрида бора с их структурой: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.09.02 / А. В. Кабышев ; науч. рук.: В. Я. Ушаков, В. В. Лопатин, офиц. оппоненты: Г. А. Воробьев, А. В. Петров; Томский политехнический институт им. С. М. Кирова (Томск), Научно-исследовательский институт высоких напряжений (Томск), Институт проблем материаловедения АН Украинской ССР (Киев). — Томск, 1988. — 18 с. — Для служебного пользования. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 15-18.
|