41 |
|
Прогнозирование технического состояния и надежности радиоэлектронной аппаратуры / Д. В. Гаскаров, Т. А. Голинкевич, А. В. Мозгалевский ; под ред. Т. А. Голинкевича. — М.: Советское радио, 1974. — 224 с.: ил. — Предм. указ.: с. 220-221. — Библиогр.: с. 217-220. — 1.01.
|
42 |
|
Микроэлектроника и полупроводниковые приборы : сб. статей / под общ. ред. А. А. Васенкова, Я. А. Федотова. — М.; : Радио и связь.
:. — М.: Радио и связь, 1984. — 304 с.: ил. — Библиогр. в конце некоторых ст. — 1.20.
|
43 |
|
Микроэлектроника и полупроводниковые приборы : сб. статей / под общ. ред. А. А. Васенкова, Я. А. Федотова. — М.; : Радио и связь.
:. — М.: Радио и связь, 1989. — 192 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — ISBN 5-256-00234-1: 1.00.
|
44 |
|
Натурный эксперимент. Информационное обеспечение экспериментальных исследований / Н. И. Баклашов [и др.] ; под ред. Н. И. Баклашова. — М.: Радио и связь, 1982. — 302 с.: ил. — Предм. указ.: с. 297-300. — Библиогр.: с. 291-297. — 1.50.
|
45 |
|
Лекции по теории атомарных функций и некоторым их приложениям / В. Ф. Кравченко. — М.: Радиотехника, 2003. — 510 с.: ил. — ISBN 5-93108-019-8: 375.00.
|
46 |
|
Проблемы ближней лазерной локации: учеб. пособие для втузов / М. П. Мусьяков, И. Д. Миценко, Г. Г. Ванеев. — М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2000. — 295 с.: ил. — ISBN 5-7038-1514-2: 56.00.
|
47 |
|
Цифровая обработка сигналов: справ. / Л. М. Гольденберг, Б. Д. Матюшкин, М. Н. Поляк. — М.: Радио и связь, 1985. — 312 с.: ил., табл. — Предм. указ.: с. 305-306. — Библиогр.: с. 301-304. — 1.40.
|
48 |
|
Основы проектирования систем цифровой обработки радиолокационной информации / С. З. Кузьмин. — М.: Радио и связь, 1986. — 352 с.: ил. — Предм. указ.: с. 346-349. — Библиогр.: с. 342-345. — 1.40.
|
49 |
|
Схемотехника измерительных устройств / В. Б. Топильский. — Москва: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2006. — 231, [1] с.: ил. — (Электроника). — Библиогр.: с. 232. — ISBN 5-94774-331-0: 261.90.
|
50 |
|
Physics of multiantenna systems and broadband processing / T. K. Sarkar, M. Salazar-Palma, E. L. Mokole. — Hoboken: Wiley, 2008. — XXI,562 p.: ill.; 24 cm. — (Wiley series in microwave and optical engineering). — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 978-0-470-19040-1: 390.00.
|