| 41 |
|
Основы электроники / И. П. Жеребцов. — 4-е изд., перераб. и доп. — Л.: Энергоатомиздат. Ленинградское отделение, 1985. — 352 с.: ил. — Библиогр.: с. 348. — 2.20.
|
| 42 |
|
Основы электроники / И. П. Жеребцов. — 5-е изд., перераб. и доп. — Л.: Энергоатомиздат. Ленинградское отделение, 1989. — 352 с.: ил. — Библиогр.: с. 348-349. — ISBN 5-283-04448-3: 3.00.
|
| 43 |
|
Технология полупроводниковых приборов: учеб. пособие для вузов по спец. "Полупроводники и диэлектрики" и "Полупроводниковые и микроэлектронные приборы" / И. Г. Пичугин, Ю. М. Таиров. — М.: Высшая школа, 1984. — 288 с.: ил. — Библиогр.: с. 288. — 1.10.
|
| 44 |
|
Конструктивно-технологические особенности субмикронных МОП-транзисторов / Г. Красников. — 2-е изд., испр. — М.: Техносфера, 2011. — 799 с.: ил.; 25 см. — (Мир электроники). — Библиогр. в конце гл. — ISBN 978-5-94836-289-2: 1188.00.
В книге рассмотрены особенности работы субмикронных МОП-транзисторов, описаны направления развития и ограничения применения методов масштабирования транзисторов, представлены требования к подзатворным диэлектрикам и технологии их формирования, различные конструкции сток-истоковых областей МОПТ и технологические процессы создания мелкозалегающих легированных слоев. Рассмотрены проблемы влияния масштабирования размеров элементов в субмикронную область и особенностей технологических процессов на надежность и долговечность субмикронных МОП-транзисторов. Представлены данные о влиянии технологических процессов изготовления субмикронных СБИС (процессов плазменной обработки, ионного легирования и технологических операций переноса изображения) на деградацию подзатворного диэлектрика, а значит — на уровень выхода, надежность и долговечность годных готовых изделий. Книга предназначена для специалистов в области проектирования и разработки технологии изготовления КМОП СБИС, а также для студентов старших курсов, аспирантов и преподавателей технических вузов.
|
| 45 |
|
Работа с электронно-лучевым осциллографом: практ. курс / В. А. Новопольский. — М.: Радио и связь, 1999. — 176 с.: ил. — (Массовая радиобиблиотека). — ISBN 5-256-01453-6: 27.30.
|
| 46 |
|
Справочник по электронным измерительным приборам / В. В. Мардин, А. И. Кривоносов. — М.: Связь, 1978. — 416 с.: ил. — 1.80.
|
| 47 |
|
Техника и приборы СВЧ: учебник для техникумов электронных приборов / М. Ф. Воскобойник, А. И. Черников. — М.: Радио и связь, 1982. — 208 с.: ил. — Библиогр.: с. 206. — 0.50.
|
| 48 |
|
Флуктуации и шумы в электронных твердотельных приборах / Г. П. Жигальский. — М.: Физматлит, 2012. — 512 с.: ил.; 22 см. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 978-5-9221-1382-3: 726.00.
Флуктуации и шумы определяют чувствительность приемных и измерительных электронных устройств. В наноэлектронике шумами ограничивается минимальный размер элемента, а также плотность записи информации в магнитных записывающих устройствах. По 1/f-шуму удается оценивать качество и прогнозировать надежность интегральных схем и устройств на их основе, не прибегая к долговременным и дорогостоящим испытаниям, причем с такой высокой достоверностью, какую не дают другие известные методы. Все эти вопросы, а также способы описания и физические модели различных шумов (1/f-шума, фликкер-шума и др.), а также методы измерения и снижения шума описаны в данном учебном пособии, написанном на основе курса лекций, прочитанных автором в Московском институте электронной техники. Для студентов старших курсов, магистрантов, аспирантов, а также научных сотрудников и инженеров.
|
| 49 |
|
Приборы квантовой электроники: учеб. пособие для вузов по напр. 654200 по спец. 071500 / Г. Г. Шишкин. — М.: Сайнс-Пресс, 2004. — 80 с.: ил. — (Конспекты лекций по радиотехническим дисциплинам). — Библиогр.: с. 80. — ISBN 5-94818-019-0: 93.83.
Рассматриваются физические основы квантового усиления, принципы работы и физические процессы в таких оптических квантовых генераторах, как газовые лазеры (атомарные, ионные и молекулярные), твердотельные, жидкостные и полупроводниковые, а также светодиоды. Приводятся параметры и характеристика лазеров различных типов, описывается их конструкция. Для студентов, обучающихся по специальности 2007, 2012, 2016, 2017, 071500.
|
| 50 |
|
Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов: учеб. пособие для вузов / Ю. М. Таиров, В. Ф. Цветков. — 3-е изд., стереотип. — СПб.: Лань, 2002. — 424 с.: ил. — (Учебники для вузов. Специальная литература). — Предм. указ.: с. 419-421. — Библиогр.: с. 418. — ISBN 5-8114-0438-7: 110.00.
|