Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 51 - 60 из 4718 для dc.subject any/relevant "пленки рентгено ... ( 0.443 сек.)

51
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов: Вища школа, 1981. — 155 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
52
Татаренко, Николай Иванович.
Автоэмиссионные наноструктуры и приборы на их основе / Н. И. Татаренко, В. Ф. Кравченко. — М.: ФИЗМАТЛИТ, 2006. — 192 с.: ил. — Библиогр.: с. 178-192. — ISBN 5-9221-0695-3: 181.50.
В книге дан анализ современного состояния и тенденций развития вакуумной микро- и наноэлектроники. Рассмотрены физико-химические основы процесса создания нового класса автоэмиссионных наноструктур на базе на-нопористого анодного оксида алюминия. Приведены результаты исследований их геометрических параметров, элементного состава и эмиссионных характеристик. Представлена принципиально новая интегральная технология создания наноструктурных автоэлектронных микроприборов и систем их межсоединений на основе тонких пленок вентильных металлов и их анодных оксидов. Изложены физические основы процедуры моделирования и расчета характеристик этих микроприборов. Приведены их экспериментальные и расчетные характеристики. Предназначается для научных и инженерно-технических работников, аспирантов и студентов старших курсов, специализирующихся в области физической электроники, микро- и наноэлектроники.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
53
Миллер, Андрей Александрович.
Электронномикроскопические исследования структуры и электронных процессов в МДМ-катодах: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / А. А. Миллер ;науч. рук. Г. А. Воробьев; Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники (Томск). — Томск, 1983. — 140 с. — Для служебного пользования. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 127-140.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
54
Семенов, Александр Петрович.
Пучки распыляющих ионов : получение и применение / А. П. Семенов ; науч. ред. Г. А. Месяц; Бурятский научный центр СО Рос. АН, Отдел физических проблем. — Улан-Удэ: БНЦ СО РАН, 1999. — 207 с.: ил., табл. — ISBN 5-7925-0049-5: 10.86.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
55
Сборник задач по общему курсу физики : в 5-ти кн. : учеб. пособие для физ. спец. вузов. — М.; : Наука.
: Атомная физика. Физика ядра и элементарных частиц / В. Л. Гинзбург [и др.] ; под ред. Д. В. Сивухина. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: Наука, 1981. — 224 с.: ил. — 1.04.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
56
Семенов, Александр Петрович.
Техника распыления ионными пучками / А. П. Семенов ; отв. ред. Ю. Л. Ломухин ; Рос. АН, Сиб. отд-ние, Бурятский научный центр, Ин-т естественных наук СО РАН. — Улан-Удэ: БНЦ СО РАН, 1996. — 120 с.: ил., табл. — ISBN 5-7623-1110-4: 8.58.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
57
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов, 1981. — 160 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
58
Физическая электроника : респ. межвед. науч.-техн. сб. / Львовский политехнический институт ; редкол. : И. Д. Набитович (отв. ред.) [и др.]. — Львов; : Вища школа.
:. — Львов: Вища школа, 1979. — 141 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 1.20.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
59
Рентгенодифракционный анализ смолисто-асфальтеновых компонентов Западносибирской нефти / В. Ф. Камьянов [и др.]; Институт химии нефти СО РАН (Томск) // Нефтехимия / Российская Академия наук. — 1989. — Том29, N1 . — С. 3-13. — ISSN 0028-2421.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
60
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцова, М. А. Долганова ; науч. ред. А. Н. Образцов; МГУ им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям. — М.: Научный Мир, 2012. — 392 с.: ил. — (Фундаментальные основы нанотехнологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-91522-225-9: 588.37.
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи