Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 121 - 130 из 3949 для dc.subject any/relevant "микроэлектроник ... ( 0.386 сек.)

121
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [сб. ст.] / отв. ред. А. А. Орликовский. — М.: Наука, 2009. — 177 с.: ил. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-02-036976-4: 292.50.
Сборник, посвященный 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др.). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещенной зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкопленочных проводников, прочности границы соединенных материалов в зависимости от их микроструктуры и содержания точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, дается обзор плазменных процессов в технологии МЭМС. Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
122
Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / А. Н. Денисов [и др.]. ; под общ. ред. А. Н. Саурова; Науч.-произв. комплекс "Технол. центр" Моск. гос. ин-та электрон. техники. — М.: Техносфера, 2012. — [296] с. разд. паг.: ил.; 25 см. — (Мир электроники). — ISBN 978-5-94836-332-5: 840.00.
Книга содержит описание унифицированной библиотеки функциональных ячеек 5503 для проектирования средствами САПР «Ковчег» различных интегральных микросхем на основе базовых матричных кристаллов серий 5503 и 5507. Предназначена для разработчиков радиоэлектронной аппаратуры, а также для преподавателей и студентов старших курсов, аспирантов, изучающих современные методы проектирования полузаказных БИС.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
123
Мартинес-Дуарт, Дж. М.
Нанотехнологии для микро- и оптоэлектроники: пер. с англ. А. В. Хачояна / Дж. М. Мартинес-Дуарт, Р. Дж. Мартин-Палма, Ф. Агулло-Руеда. — М.: Техносфера, 2007. — 368 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — ISBN 978-5-94836-126-0: 238.00.
В данной книге подробно описаны основные физические концепции, связанные с нанонаукой и нанотехнологиями, и возможности создания на их основе микроэлектронных и оптоэлектронных приборов нового поколения. В настоящее время издается много книг по новейшим разделам нанонауки, но почти отсутствуют учебники и пособия для студентов-старшекурсников и аспирантов, связанных с нанонаукой. Предлагаемая книга восполняет этот пробел, так как представляет собой ценное учебное и справочное пособие для студентов, специализирующихся в физике, материаловедении и некоторых других технических дисциплинах. Кроме того, книга может представить интерес для ученых и инженеров-практиков, желающих глубже понять принципы нанонауки и нанотехнологии.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
124
Данилов, Илья Александрович.
Общая электротехника с основами электроники: учеб. пособие для студентов неэлектротехн. специальностей сред. спец. учеб. заведений / И. А. Данилов, П. М. Иванов. — 4-е изд., стереотип. — М.: Высшая школа, 2000. — 752 с.: ил. — Библиогр.: с. 745. — ISBN 5-06-003737-1: 153.50.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
125
Булычев, Анатолий Леонидович.
Электронные приборы / А. Л. Булычев, П. М. Лямин, Е. С. Тулинов. — М.: Лайт Лтд., 2000. — 416 с.: ил. — ISBN 5-89818-048-6: 76.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
126
Викулин, Иван Михайлович.
Гальваномагнитные приборы / И. М. Викулин, Л. Ф. Викулина, В. И. Стафеев ; отв. ред. В. М. Пролейко. — М.: Радио и связь, 1983. — 104 с.: ил. — (Массовая библиотека инженера "Электроника"). — Библиогр.: с. 96-99. — 0.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
127
Основы промышленной электроники: учеб. для неэлектротехн. спец. вузов / В. Г. Герасимов [и др.] ; под ред. В. Г. Герасимова. — 3-е изд. перераб. и доп. — М.: Высшая школа, 1986. — 336 с.: ил. — Предм. указ.: с. 330-333. — Библиогр.: с. 329. — 0.80.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
128
Ершов, Радий Ефимович.
Метод высших гармоник в неразрушающем контроле: научное издание / Р. Е. Ершов ; под ред. Р. Г. Хлебопроса; Институт физики им. Л. В. Киренского СО АН СССР (Красноярск). — Новосибирск: Наука, 1979. — 80 с.: ил. — Библиогр.: с. 75-80. — 0.70.
Рассмотрены физические основы метода высших гармоник. Даны рекомендации по отстройке от мешающих факторов и выбору оптимальных режимов неразрушающего контроля этим методом. Проведенные расчеты использованы для контроля твердости литого чугуна и магнитных параметров тонких магнитных пленок. Книга может быть полезна дефектоскопистам, проектирующим приборы неразрушающего контроля, инженерам, работающим в области использования нелинейных магнитных материалов в переменных полях, и физикам, занимающимся проблемами магнитных явлений, особенно в прикладном их аспекте.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
129
Российская конференция по электронной микроскопии.
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
130
Харрик, Н.
Спектроскопия внутреннего отражения / Н. Харрик ; пер. с англ.: В. М. Золотарева, В. А. Берштейна, под ред. В. А. Никитина. — М.: Мир, 1970. — [335] с.: граф. — Библиогр.: с. 282-301.
За последние годы метод спектрофотометрии нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) получил широкое распространение в практике научных исследований. В книге рассмотрены преимущества метода НПВО по сравнению с классическими методами пропускания и обычного отражения. Обсуждены возможности метода применительно к решению большого круга задач в области физики, химии, в различных областях техники, в биологии и т. д. Приводятся примеры как уже осуществленных, так и возможных приложений метода к изучению структуры поверхности массивных тел и тонких пленок, и в частности поверхностных свойств полупроводников. Рассмотрены приложения метода в области изучения полимеров, повеерхностных соединений, химических реакций, адгезии, адсорбции и т. д. Книга представляет большой интерес для специалистов-спектроскопистов, работающих в различных областях науки и техники, физиков, биологов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи