Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 10 из 4698 для dc.subject any/relevant "метрология стан ... ( 1.095 сек.)

1
Тартаковский, Дмитрий Федорович.
Метрология, стандартизация и технические средства измерений: учеб. для вузов / Д. Ф. Тартаковский, А. С. Ястребов. — М.: Высшая школа, 2001. — 205 с.: ил. — Библиогр.: с. 205. — ISBN 5-06-003796-7: 72.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Основы метрологии и электрические измерения: учеб. для вузов по спец. "Информационно-измерительная техника" / Б. Я. Авдеев [и др.] ; под ред. Е. М. Душина. — 6-е изд., перераб. и доп. — Л.: Энергоатомиздат. Ленинградское отделение, 1987. — 480 с.: ил. — 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Клаассен, К. Б.
Основы измерений: Датчики и электронные приборы / К. Б. Клаассен ; пер. с англ. Е. В. Воронова, А. Л. Ларина. — 3-е изд. — Долгопрудный: Интеллект, 2008. — 352 с.: ил. — Библиогр.: с. 345-346. — Предм. указ.: с. 336-344. — ISBN 978-5-91559-001-3: 770.00.
Перевод английского издания известного вводного курса теории и техники измерений, основанного на едином системном подходе к электрическим, тепловым, механическим измерениям. Учебное пособие для студентов и преподавателей естественно-научных и технических университетов, специалистов по метрологии, датчикам, приборостроению и системам управления.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Якушев, Александр Иванович.
Взаимозаменяемость, стандартизация и технические измерения: учеб. для втузов / А. И. Якушев. — М.: Машиностроение, 1979. — 344 с.: ил. — Библиогр.: с. 340. — 1.10.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Демин, Виктор Валентинович.
Оптические измерения : учеб. пособие / В. В. Демин, И. Г. Половцев, Г. В. Симонова ; Томский государственный университет (Томск), Институт мониторинга климатических и экологических систем СО РАН (Томск). — Томск; : Томский государственный университет , 2014.
:. — Томск: ТГУ, 2014. — 580 с. — Рекомендовано Учебно-методическим объединением вузов РФ по образованию в области приборостроения и оптотехники для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 12.03.02 (200400) "Оптотехника", 12.03.03 (200700) "Фотоника и оптоинформатика", 12.03.05. (200500) "Лазерная техника и лазерные технологии", магистратуры 12.04.02 (200400) "Оптотехника", 12.04.03 (200700) "Фотоника и оптоинформатика", 12.04.05 (200500) "Лазерная техника и лазерные технологии" и специальности 12.05.01 (200401) "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения". — ISBN 978-5-94621-436-0.
Учебное пособие содержит сведения по основам оптических измерений, информацию об оптических средствах и методах измерений, большое количество примеров из измерительной практики. Представлен справочный материал по нормативной и технической документации и геометрической оптикеДля студентов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров и магистров - "Оптотехника", "Фотоника и оптоинформатика", "Лазерная техника и лазерные технологии", а также по специальности "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения". Представляет интерес для ученых и специалистов в области оптического приборостроения и измерительной техники.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Кивилис, Соломон Семенович.
Плотномеры / С. С. Кивилис. — М.: Энергия, 1980. — 279 с.: ил. — Предм. указ.: с. 276-277. — Библиогр.: с. 262-275. — 0.95.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Козловский, Николай Сергеевич.
Основы стандартизации, допуски, посадки и технические измерения: учеб. для техникумов / Н. С. Козловский, А. Н. Виноградов. — М.: Машиностроение, 1979. — 224 с.: ил. — Предм. указ.: с. 218-222. — Библиогр.: с. 217. — 0.90.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Лич, Ричард К.
Инженерные основы измерений нанометровой точности: учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заболоцкого. — Долгопрудный: Интеллект", 2012. — 399 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-0-08-096454-6 (англ.). — ISBN 978-5-91559-119-5: 1210.00.
Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое™ измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Новицкий, Петр Васильевич.
Оценка погрешностей результатов измерений / П. В. Новицкий, И. А. Зограф. — Л.: Энергоатомиздат. Ленинградское отделение, 1985. — 247 с.: ил. — Библиогр.: с. 242-245. — 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи