Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 91 - 100 из 8490 для dc.subject any/relevant "материаловедени ... ( 0.502 сек.)

91
Боуэн, Д. К.
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; отв. ред. И. Л. Шульпина. — СПб.: Наука, 2002. — 274 с.: 147 ил. — Парал. тит. лист англ. — Предм. указ.: с. 271-274. — Библиогр.: с. 269-270. — ISBN 5-02-024963-7.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
92
Квантовая электроника = Quantum Electronics / Рос. акад. наук, Физ. ин-т им. П.Н.ЛебедевА, Ин-т общ. физики, МГУ, Междунар. учеб.-науч. лазер. центр и др. — 1971-. — Б.м.: Физический ин-т им. П.Н. Лебедева, 1971-. — Периодичность: 12 в год (ежемесячно). — Схема доступа: http://www.turpion.org; http://www.quantum-electron.ru. — ISSN 0368-7147.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
93
Пузаченко, Юрий Георгиевич.
Математические методы в экологических и географических исследованиях: учебное пособие для студентов вузов / Ю. Г. Пузаченко. — М.: Академия, 2004. — 407, [9] с.: ил. — (Высшее профессиональное образование). — Библиогр.: с. 400-406. — ISBN 5-7695-1348-9: 415.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
94
Горелик, Семен Самуилович.
Материаловедение полупроводников и металловедение: учеб. пособие для вузов / С. С. Горелик, М. Я. Дашевский. — М.: Металлургия, 1973. — 500 с.: ил. — Библиогр.: с. 495-500. — 3.21.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
95
Наноструктурные покрытия / под ред.: А. Кавалейро, Д. Хоссона де, пер. с англ. А. В. Хачояна под ред. Р. А. Андриевского. — М.: Техносфера, 2011. — 752 с.: цв.ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-182-6: 1300.00.
Сборник подготовлен международным коллективом ведущих специалистов в области нанонауки и наноструктурных покрытий. Изложены основные сведения о синтезе сверхтвердых пленок на основе тугоплавких соединений, их структуре, фазовом составе. физико-механических свойствах и сферах применения. Подробно характеризуются методы исследования покрытий: просвечивающая электронная микроскопия, наноиндентирование и компьютерный эксперимент. детально анализируются теоретические и опытные данные о природе деформации и разрушения сверхтвердых покрытий. Особое внимание уделено их трибологическим характеристиками и термической стабильности. Сборник будет полезен ученым, инженерам и преподавателям высшей школы, студентам и аспирантам, специализирующимся в области нанотехнологий, наноматериалов и нанопокрытий.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
96
Томашпольский, Юрий Яковлевич.
Аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия / Ю. Я. Томашпольский. — М.: Научный мир, 2006. — 109 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 98-109. — ISBN 5-89176-404-0: 208.00.
На основе установленных в последние десятилетия новых закономерностей выхода из вещества эмиссии вторичных электронов и модельных представлений, связывающих температурные, композиционные, токовые и полевые зависимости интенсивности эмиссии с химическим и фазовым составом, атомной и электронной структурой, фазовыми переходами и другими фундаментальными характеристиками, развит комплекс новых методов - аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия. В монографии впервые сделана попытка обобщить многочисленные, но разрозненные теоретические и экспериментальные результаты, характеризующие аналитические достижения вторично-электронной эмиссиометрии. Книга предназначена для широкого круга аналитиков, работающих над решением проблем локальной, высокочувствительной, неразрушающей качественной и количественной характеризации вещества, а также для специалистов в химии, физике, материаловедении, геологии, металлургии, микро- и наноэлектронике. Книга может быть полезна также для студентов родственных специальностей и частично - для студентов колледжей радиотехнического направления.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
97
Солимар, Ласло.
Лекции по электрическим свойствам материалов / Л. Солимар, Д. Уолш ; пер. с англ. под ред. С. И. Баскакова. — М.: Мир, 1991. — 501 с.: ил. — Предм. указ.: с. 494-497. — ISBN 5-03-001934-0: 7.90.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
98
Спенс, Джон.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Д. Спенс ; пер с англ. под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Наука, 1986. — 320 с.: ил. — Библиогр.: с. 313-320. — 3.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
99
Хокс, П.
Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; пер. с англ. И. Ф. Анаскина, А. М. Розенфельда, под ред. И. Г. Стояновой. — Б.м.: Мир, 1974. — 318 с.: ил. — Предм. указ.: с. 315-318. — Библиогр.: с. 296-299. — 1.66.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
100
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-94836-064-4: 168.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи