| 11 |
|
Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : в 2 т. : [учебник для вузов по химико-технологическим направлениям и специальностям]. — М.; : Академия.
:. — М.: Академия, 2010. — 411, [5] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-7695-5817-7. — ISBN 978-5-7695-5818-4: 974.00.
|
| 12 |
|
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учеб. пособие / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов ; рец.: В. А. Неронов, В. А. Аксенов. — М.: Флинта: Наука, 2007. — 224 с.: ил.; 22 см. — Допущено УМО вузов РФ по образованию в обл. материаловедения, технологии материалов и покрытий в качестве учеб. пособия по дисциплине "Физические методы исследования материалов" для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 (551600) - "Материаловедение и технология новых материалов" и дипломир. специалистов по специальностям 150601 (071000) - "Материаловедение и технология новых материалов" и 150501 (120800) - "Материаловедение в машиностроении". — ISBN 978-5-02-034811-0 (Наука). — ISBN 978-5-9765-0207-9 (Флинта): 302.
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.
|
| 13 |
|
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов ; Рос. АН, Институт физики микроструктур; Институт физики микроструктур РАН. — М.: Техносфера, 2004. — 144 с.: ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 140-143. — ISBN 5-94836-034-2: 176.00.
|
| 14 |
|
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов; Рос. АН, Институт физики микроструктур. — М.: Техносфера, 2005. — 144 с.: ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 140-143. — ISBN 5-94836-034-2: 145.00.
Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур — от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
|
| 15 |
|
Физическая химия. Принципы и применение в биологических науках: [учебник] / И. Тиноко [и др.]; пер. с англ. Е. Р. Разумовой под ред. В. И. Горшкова. — М.: Техносфера, 2005. — 743 с.: ил; 25 см. — (Мир химии). — Библиогр.: с. 742-743. — ISBN 5-94836-036-9: 364.50.
Перевод четвертого издания книги известных американских ученых в области молекулярной биологии является уникальной монографией по использованию методов физической химии для решения самых разнообразных проблем биохимии. Авторы убедительно показывают, что многочисленные формулы термодинамики — не просто гимнастика ума, а вещи весьма полезные и даже необходимые для биологов. В книге также тщательно и подробно излагаются основы коллоидной химии, кинетики, описываются спектроскопические методы, рентгеноструктурный анализ и электронная микроскопия — и все это также с оригинальными и запоминающимися биофизическими примерами на молекулярном уровне.
|
| 16 |
|
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00.
|
| 17 |
|
Surface analysis methods in materials science / ed.: D. J. O'Connor [et al.]. — Berlin: Springer, 2002. — 585 с.: ill. — (Springer series in surface sciences). — Ind.: p. 579-585. — Bibliogr. at the end of the chapters. — ISBN 3-540-41330-8: 520.00. |
| 18 |
|
Нанотехнологии в электронике : сборник / под ред. Ю. А. Чаплыгина. — М.; : Техносфера.
:. — М.: Техносфера, 2013. — 686 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-353-0: 975.00.
Настоящее издание - второй выпуск книги «Нанотехнологии в электронике», вышедшей несколько лет назад. Каждую из частей книги представляет группа авторов, активно развивающих данное направление в Национальном исследовательском университете «МИЭТ». Коллектив авторов старался осуществить частичную преемственность материала, содержащегося в первом выпуске, однако структура книги существенно изменилась: группировка статей по условным разделам (теоретико-экспериментальные работы, методы исследований, технологии, приборы и устройства) представляется более правильной с точки зрения понимания общего направления работ в МИЭТ. Каждая из работ представляет собой законченный научный труд обзорного или обобщающего характера, либо является частью оригинальных исследований, полученных в последние 3-5 лет. Книга представляет интерес для специалистов, аспирантов и студентов, работающих в области нанотехнологии и смежных областях.
|
| 19 |
|
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
|
| 20 |
|
Техническая микроскопия: Практика работы с микроскопами для технических целей: С микроскопом на "ты" / О. В. Егорова. — 2-е изд., перераб. — М.: Техносфера, 2007. — 360 с.: цв.ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр.: с. 353-357. — ISBN 978-5-94836-129-1: 252.45.
Данная книга представляет собой развитие темы технической микроскопии, поднятой автором в книге "С микроскопом на "ты" (СПб.: Интерлаб, 2000). За прошедшее время произошли изменения в номенклатуре световых микроскопов, появились вопросы, связанные с технологией изготовления, измерения, оценки качества оптических систем и их тестированием. В книге рассмотрены вопросы классификации технических микроскопов, подбора техники для решения задач микроскопических методов исследования образцов, а также вопросы стандартизации и методов контроля качества оптических деталей. Приведены основные формулы микроскопии. Книга предназначена для специалистов-микроскопистов ЦЗЛ, студентов технических вузов, разработчиков оптических систем, менеджеров и маркетологов.
|