| 1 |
|
Харьковская нанотехнологическая ассамблея : сборник докладов 18-го Международного симпозиума "Тонкие пленки в оптике и наноэлектронике / Национальный Научный Центр "Харьковский физико-технический институт" ; под общ. ред. И. М. Неклюдова, В. М. Шулаева. — Харьков; : ХФТИ.
: Тонкие пленки в оптике и наноэлектронике. — Харьков: ХФТИ, 2006. — 428 с. — ISBN 966-8855-21-3: 1300.00.
|
| 2 |
|
Харьковская нанотехнологическая ассамблея : сборник докладов 7-й Международной конференции "Вакуумные нанотехнологии и оборудование", Международного семинара "Вакуумно- дуговой разряд с холодным катодом: физика, технологии и устройства", Международного научно-практического симпозиума "Наноструктурные функциональные покрытия для промышленности" / Национальный Научный Центр "Харьковский физико-технический институт" ; под общ. ред. И. М. Неклюдова, В.М. Шулаева. — Харьков; : ХФТИ.
: Вакуумные нанотехнологии и оборудование. — Харьков: ХФТИ, 2006. — 400 с. — ISBN 966-8855-21-3: 1300.00.
|
| 3 |
|
Труды симпозиума = Low dimensional Systems / Физика низкоразмерных систем и поверхностей (2 ; 3-8 сентября 2010 г. ; Ростов н/Д). — Ростов н/Д: СКНЦ ВШ ЮФУ АПСН, 2010. — 336 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-87872-560-6: 155.00.
|
| 4 |
|
XXIVI Российская конференция по электронной микроскопии [Электронный ресурс] : материалы временных коллективов / Российская конференция по электронной микроскопии (Черноголовка). — Электрон. дан. — Черноголовка, 2012. — Загл. с диска. — 150.00.
|
| 5 |
|
Нанотехнологии в электронике : сборник / под ред. Ю. А. Чаплыгина. — М.; : Техносфера.
:. — М.: Техносфера, 2013. — 686 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-353-0: 975.00.
Настоящее издание - второй выпуск книги «Нанотехнологии в электронике», вышедшей несколько лет назад. Каждую из частей книги представляет группа авторов, активно развивающих данное направление в Национальном исследовательском университете «МИЭТ». Коллектив авторов старался осуществить частичную преемственность материала, содержащегося в первом выпуске, однако структура книги существенно изменилась: группировка статей по условным разделам (теоретико-экспериментальные работы, методы исследований, технологии, приборы и устройства) представляется более правильной с точки зрения понимания общего направления работ в МИЭТ. Каждая из работ представляет собой законченный научный труд обзорного или обобщающего характера, либо является частью оригинальных исследований, полученных в последние 3-5 лет. Книга представляет интерес для специалистов, аспирантов и студентов, работающих в области нанотехнологии и смежных областях.
|
| 6 |
|
Модификация поверхности металлов методом ионно-лучевого смешивания: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / И. Г. Мурзин ; науч. рук. Л. П. Чупятова, офиц. оппоненты: В. Н. Мордкович, Г. В. Гордеева; Московский институт стали и сплавов (М.), ЦНИИЧЕРМЕТ. — М., 1992. — 25 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 24-25.
|
| 7 |
|
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [посвящ. 70-летию со дня рождения А. А. Орликовского] / Физико-технологический институт РАН; отв. ред. В. Ф. Лукичев. — М.: Наука, 2008. — 246, [1] с.: ил.; 24 см. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-02-036641-1: 229.50.
Сборник посвящен актуальным проблемам математического моделирования субмикронных технологий и квантовых наноприборов. Основное внимание уделено наиболее важным проблемам, таким как фотолитография, травление и осаждение тонких пленок, электронная литография, надежность соединений и корпусов микросхем, квантовое поведение нанотранзисторов. Отдельно рассмотрены квантовые модели структур с пониженной размерностью, спиновых структур, методы квантовой обработки и передачи информации, в частности квантовой криптографии. Обсуждается возможность построения полномасштабного твердотельного квантового компьютера на ядерных спинах кремния. Для специалистов в области микро- и наноэлектроники, аспирантов и студентов старших курсов соответствующих специальностей.
|
| 8 |
|
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [сб. ст.] / отв. ред. А. А. Орликовский. — М.: Наука, 2005. — 414,[1] с.: ил.; 24 см. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 5-02-033950-4: 194.00. |
| 9 |
|
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование: [сб. ст.] / отв. ред. А. А. Орликовский. — М.: Наука, 2009. — 177 с.: ил. — (Труды ФТИАН / Рос. акад. наук, Физ.-технол. ин-т ; гл. ред. К. А. Валиев, 0868-7129). — Библиогр. в конце ст. — ISBN 978-5-02-036976-4: 292.50.
Сборник, посвященный 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др.). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещенной зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкопленочных проводников, прочности границы соединенных материалов в зависимости от их микроструктуры и содержания точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, дается обзор плазменных процессов в технологии МЭМС. Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.
|
| 10 |
|
Материалы IV Межрегионального совещания "Тонкие пленки в электронике" / Науч.-произв. об-ние "Техномаш", Центр. н.-и. технол. ин-т, Рос. акад. наук. Бурят. ин-т естеств. наук [и др.]; отв. науч. ред. А. Ф. Белянин, науч. ред. В. Г. Глотов. — М.; Улан-Удэ, 1993. — 255 с.: ил. — Библиогр. в конце докл.
|