201 |
|
Теория передачи сигналов [учеб. для студ. электротехн. ин-тов связи спец. 0702, 0703, 0708 ] / А. Г. Зюко [и др.]. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Радио и связь, 1986. — 304 с.: ил. — Библиогр.: с. 302-303. — 1.00.
|
202 |
|
Анализ и прогноз развития больших технических систем / С. А. Саркисян, В. М. Ахундов, Э. С. Минаев; АН СССР, Ин-т пробл. упр. — М.: Наука, 1983. — 280 с.: ил. — Библиогр.: с. 277-278. — 2.20.
|
203 |
|
Реконструкция изображений / К. К. Рашфорт [и др.] , под ред. Г. Старка, пер. с англ. Д. Б. Аратского [и др.] , под ред. Б. С. Кругликова. — М.: Мир, 1992. — 635 с.: ил. — Библиогр.: с. 624-629. — ISBN 5-03-001869-7: 115.00.
|
204 |
|
Практика программирования на Фортране: упражнения с комментариями / М. Дрейфус, К. Ганглоф ; пер. с фр. В. А. Баяковской, А. А. Бряндинской, под ред. Ю. М. Баяковского. — М.: Мир, 1978. — 224 с.: ил. — 0.90.
|
205 |
|
Теория электрических фильтров / Дж. Д. Роудз ; пер. с англ. В. И. Хижниченко, под ред. А. М. Трахтмана. — М.: Советское радио, 1980. — 240 с.: ил. — Библиогр.: с. 234-236. — 1.80.
В книге рассматриваются вопросы аппроксимации характеристик и синтеза схем, реализующих аппроксимирующие функции, применительно к фильтрам с сосредоточенными и распределенными параметрами, а также к цифровым волновым фильтрам. Такой единый подход к проектированию фильтров различных типов является новым. Книга представляет значительный интерес для исследователей, разрабатывающих вопросы теории фильтров, а также для инженеров-разработчиков, которые, не вдаваясь в сущность развиваемой теории, смогут найти в книге необходимые расчетные формулы и алгоритмы.
|
206 |
|
В работе рассматривается эволюция очагов локализации пластической деформации коррозионно-стойкого биметалла на основе соединения аустенитной нержавеющей стали марки 12Х18Н9Т и низкоуглеродистой конструкционной стали Ст.З в условиях агрессивной водородосодержащей среды. Для выявления очагов локализации пластической деформации был использован метод корреляции цифровых спекл- изображений, позволяющий получить картины локализованной пластической деформации результате нагружения, т. е. определить поле векторов смещения в плоском образце при растяжении и далее рассчитать компоненты тензора пластической дисторсии (локальные удлинения эпсилон хх, сдвиг эпсилон ху и поворот омега z). При использовании данной методики в процессе нагружения образца были определены картины локализации в деформируемом образце на разных стадиях деформационного упрочнения в исходном состоянии и после насыщения водородом в течение 6 часов. Информация о закономерностях распространения фронтов локализации пластической деформации в рассматриваемом материале может быть использована для более детального изучения процесса пластического течения слоистых металлических композитов. Изучение данного процесса позволяет на ранних стадиях спрогнозировать область формирования деформационной шейки и определить место будущего разрушения материала.
|
207 |
|
Исследовано влияние величины шага сетки векторного поля на оценку деформации в методе корреляции цифровых изображений для случая неоднородной деформации нагруженных твердых тел. Влияние шага сетки при оценке деформации изучали в зависимости от величины перемещений, а также наличия и размера области разрыва в поле векторов перемещений (деформаций). Предложен алгоритм автоматического выбора шага сетки векторного поля, обеспечивающий уменьшение ошибки оценки деформации по сравнению с наилучшим результатом для случая равномерного шага сетки.
|
208 |
|
Оптоэлектроника и полупроводниковая техника : межвед. сб. науч. тр. / НАН Украины ; Ин-т физики полупроводников, Отд-ние оптоэлектроники.
:. — Киев: Наукова думка, 2004. — 182 с.: ил. — 130.00.
|
209 |
|
Оптоэлектроника и полупроводниковая техника : межвед. сб. науч. тр. / НАН Украины ; Ин-т физики полупроводников, Отд-ние оптоэлектроники.
:. — Киев: Наукова думка, 2003. — 312 с.: ил. — 150.00.
|
210 |
|
Оптоэлектроника и полупроводниковая техника : межвед. сб. науч. тр. / НАН Украины ; Ин-т физики полупроводников, Отд-ние оптоэлектроники.
:. — Киев: Наукова думка, 2002. — 236 с.: ил. — 150.00.
|