| 1 |
|
Введение в рентгенографию катализаторов / Л. М. Плясова ; рец. В. В. Малахов; Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН. — Новосибирск: Институт катализа, 2010. — 58 с.: ил.; 30 см. — Библиогр.: с. 55-57. — ISBN 978-5-9902557-1-5: 50.00.
В пособии кратко изложен материал, необходимый для понимания методов рентгенографии, используемых для первичной характеристики фазового состава и дисперсности гетерогенных катализаторов, в том числе бифункциональных оксидных систем, а также дается понятие о возможностях прецизионных методов современной порошковой рентгенографии, необходимых при более детальном исследовании структурных характеристик катализаторов, Для студентов, аспирантов и исследователей в области катализа, использующих физико-химические методы для характеристики гетерогенных катализаторов.
|
| 2 |
|
Введение в структурный анализ нанокристаллов: учеб. пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова ; рец. Ю. В. Шубин; Новосибирский государственный университет (Новосибирск), каф. физических методов исследования твердого тела. — Новосибирск: НГУ, 2009. — 87 с.: ил. — (Физика в НГУ). — Изд. подготовлено в рамках выполнения инновационно-образовательной программы "Инновационные образовательные программы и технологии, реализуемые на принципах партнерства классического университета, науки, бизнеса и государства" национального проекта "Образование". — Библиогр.: с. 79-84. — ISBN 978-5-94356-762-9: 123.00.
В пособии обсуждаются проблемы рентгеноструктурного анализа нанокристаллических материалов, излагаются современные рентгенографические методики исследования наноразмерных и наноструктурированных систем. Рассматриваются особенности рентгеновской дифракции для ID и 3D когерентных наноструктур. Пособие предназначено для магистрантов ФФ НГУ, обучающихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, а также студентов других кафедр и факультетов, занимающихся исследованием структуры нанокристаллических материалов. Предполагается, что обучающиеся знакомы с началами кристаллографии и теории рассеяния рентгеновских лучей.
|
| 3 |
|
Рентгенография катализаторов в контролируемых условиях температуры и среды / Л. М. Плясова [и др.] ; под ред. Л. М. Плясовой; Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН (Новосибирск). — Новосибирск: Институт катализа, 2011. — 183 с.: ил.; 29 см. — Авт. указаны на обороте тит. л. — Библиогр.: с. 176-183, библиогр. в конце разд. — ISBN 978-5-9902557-3-9: 50.00.
В книге изложены основы метода рентгенографии катализаторов в условиях повышенных температур и среды, моделирующих условия, в которых осуществляются процессы приготовления, активации и работы сложных оксидных и металлоксидных катализаторов. Описаны аппаратура и методические приемы, используемые при проведении экспериментов методом XRD in situ, показаны новые возможности метода при использовании синхротронного излучения. Эффективность метода продемонстирована на примерах исследования ряда актуальных катализаторов на протяжении многих лет. Для студентов, аспирантов и исследователей в области катализа, использующих физико-химические методы для характеристики гетерогенных катализаторов.
|
| 4 |
|
Оптическая спектроскопия в адсорбции и катализе : [пособие] / Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН. — Новосибирск;.
: Спектроскопия в УФ и Видимом диапазонах. Новые методики колебательной спектроскопии для изучения поверхности / Е. А. Паукштис [и др.] ; ред. Е. А. Паукштис. — Новосибирск, 2012. — 99 с. — ISBN 978-5-990-2557-4-6: 50.00.
Пособие предназначено для студентов, аспирантов и молодых ученых, специализирующихся в области гетерогенного и гомогенного катализа. Оно знакомит с основными особенностями применения методов оптической спектроскопии для изучения твердых катализаторов. В дополнении к первой части, опубликованной в 2010 году, рассмотрены методы спектроскопии комбинационного рассеяния, УФ-Вид спектроскопии для изучения растворов и твердых веществ. Дополнительно излагаются методы изучения поверхности катализаторов, основанные на новейших методических приемах.
|
| 5 |
|
Оптическая спектроскопия в адсорбции и катализе. Применение ИК спектроскопии / Е. А. Паукштис; Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН (Новосибирск). — Новосибирск: Институт катализа, 2010. — 54 с.: ил.; 30 см. — ISBN 978-5-990-2557-2-2: 50.00.
|
| 6 |
|
Методы изучения катализаторов / под ред. С. З. Рогинского, Г. М. Жабровой; Институт физической химии АН СССР. — М.: Издательство Академии наук СССР, 1948. — 326, [2] с.: ил., табл. — (Проблемы кинетики и катализа). — Библиогр. в конце ст. — 1.60. |
| 7 |
|
Основы структурного анализа химических соединений: учеб. пособие / М. А. Порай-Кошиц. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Высшая школа, 1989. — 188, [4] с.: ил., табл. — ISBN 5-06-000074-5: 0.40.
|
| 8 |
|
Кинетика и катализ.
: Кинетика и катализ. — М.: ВИНИТИ, 1986. — 246, [2] с.: ил., табл. — Библиогр. в конце разд. — 2.50.
|
| 9 |
|
Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия / Д. И. Кочубей [и др.] ; отв. ред. Г. М. Жидомиров; Институт катализа СО АН СССР. — Новосибирск: Наука, 1985. — 302, [4] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-02-029190-0: 3.10. |
| 10 |
|
Катализ и производство катализаторов / И. М. Колесников; Рос. гос. ун-т нефти и газа им. И. М. Губкина. — Москва: Техника, 2004. — 399, [1] с.: ил. — Предм. указ.: с. 392-393. — ISBN 5-93969-021-1: 445.00.
|