| 41 |
|
Взаимодействие электромагнитного излучения с плазмой и пучками / В. В. Анциферов [и др.]. — Новосибирск: СОМИНИ РАН, 2004. — 416 с.: ил. — Библиогр.: с. 391-415. — ISBN 5-9657-0019-9: 100.00. |
| 42 |
|
Исследования в области спектроскопии и квантовой электроники: тезисы докл. IX республ. конф. молодых ученых по спектроскопии и квантовой электроники, Паланга, 23-25 мая 1989 г. / АН ЛитССР, Институт физики, Вильнюсский университет. — Вильнюс: Институт физики АН ЛитССР, 1989. — 145 с.: ил. — Алф. указ.: с. 139-145. — 1.00. |
| 43 |
|
Металлические стекла / под ред. Г. Бека, Г. -Й. Гюнтеродта, пер. с англ. под ред. В. А. Алексеева, Е. Г. Максимова. — М.; : Мир.
: Атомная структура и динамика, электронная структура, магнитные свойства / Г. Бек [и др.]. — М.: Мир, 1986. — 454 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — 4.90.
|
| 44 |
|
Нанотехнологии: [учеб. пособие] / Ч. Пул, Ф. Оуэнс; пер. с англ. под ред. Ю. И. Головина; дополнения В. В. Лучинина. — 2-е изд., доп. — М.: Техносфера, 2005. — 334 с.: ил.; 24 см. — (Мир материалов и технологий). — ISBN 5-94836-021-0.
Первое руководство на русском языке, описывающее структуру и свойства наноматериалов от твердотельных до биологических объектов. Исчерпывающе изложены технологии изготовления и методы исследования наноструктур, разнообразные применения — от оптоэлектроники до катализа и биотехнологий. Второе издание дополнено материалами по методическим аспектам «индустрии наносистем» и применениям нанотрубок в электронике. Учебник-монография адресован широкому кругу научных работников, инженеров-электронщиков, специалистов в областях химических и биотехнологий.
|
| 45 |
|
Нанотехнологии: [учеб. пособие по направлению подготовки "Нанотехнологии"] / Ч. Пул, Ф. Оуэнс; пер. с англ. под ред. Ю. И. Головина; дополнение В. В. Лучинина. — 2-е изд., доп. — М.: Техносфера, 2006. — 334, [2] с. — (Мир материалов и технологий). — ISBN 5-94836-081-4: 209.09.
Первое руководство на русском языке, описывающее структуру и свойства наноматериалов от твердотельных до биологических объектов. Исчерпывающе изложены технологии изготовления и методы исследования наноструктур, разнообразные применения — от оптоэлектроники до катализа и биотехнологий. Второе издание дополнено материалами по методическим аспектам «индустрии наносистем» и применениям нанотрубок в электронике. Учебник-монография адресован широкому кругу научных работников, инженеров-электронщиков, специалистов в областях химических и биотехнологий.
|
| 46 |
|
Нанокремний: свойства, получение, применение, методы исследования и контроля / А. А. Ищенко, Г. В. Фетисов, Л. А. Асланов. — М.: Физматлит, 2011. — 647 с.: цв.ил. — Предм. указ.: с. 638-647. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-9221-1369-4: 893.00.
Монография посвящена систематическому изложению свойств, методов синтеза и возможностей применения пористого кремния, нанокремния и композитных материалов на их основе. Подробно изложены методы получения нанокристаллического кремния и проведен их сравнительный анализ. Описаны электронные и оптические свойства, современные методы исследования, позволяющие дать характеристику спектральных и структурных свойств этого материала, обладающего уникальными оптическими (поглощение излучения в УФ-области и фотолюминесценция в видимой области спектра) и электрофизическими свойствами. Значительное внимание уделяется различным областям практического применения : в УФ-защитных покрытиях, биоаналитике и солнечной энергетике. Представлены результаты исследований трансформации свойств наночастиц кремния в зависимости от химического состава примесей, появляющихся при синтезе и нахождении наночастиц в атмосфере воздуха. Описаны методы диагностики структуры, состава образующихся примесей и способы направленного модифицирования поверхности наночастиц кремния и функции их распределения по размерам. Монография рекомендуется широкому кругу читателей, интересующихся проблемами создания, исследования и применения наноматериалов, - научным работникам, аспирантам и студентам, специализирующимся в этой увлекательной и интенсивно развивающейся области современной науки.
|
| 47 |
|
Физические свойства атомарно-чистой поверхности полупроводников / Б. А. Нестеренко, О. В. Снитко; АН УССР, Институт полупроводников. — Киев: Наукова Думка, 1983. — 264 с.: ил. — Библиогр.: с. 228-261. — 3.30.
|
| 48 |
|
Введение в теорию атомных спектров / И. И. Собельман. — М.: Наука, 1977. — 319 с.: ил. — Библиогр.: с. 318-319. — 1.50.
|
| 49 |
|
ЯМР высокого разрешения в твердых телах / У. Хеберлен, М. Меринг ; пер. с англ. Г. В. Скроцкого, Э. Т. Липпмаа. — М.: Мир, 1980. — 504 с.: ил., граф. — Библиогр. в конце глав. — 4.80.
|
| 50 |
|
Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии: учеб. пособие / Ю. С. Нагорнов, И. С. Ясников, М. Н. Тюрьков; Тольят. гос. ун-т. — Тольятти: ТГУ, 2012. — 58 с.: ил.; 20 см. — Библиогр.: с. 57-58. — ISBN 978-5-88504-099-0: 30.00.
В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
|