| 41 |
|
Электроника для экспериментальной физики: сб. науч. тр. / Моск. инж.-физ. ин-т; под ред. Т. М. Агаханяна. — М.: Энергоатомиздат, 1986. — 83 с.: ил. — Библиогр. в конце ст. — 0.80. |
| 42 |
|
Научное приборостроение. Физика аналитических приборов: сб. науч. тр. / АН СССР, Науч.-техн. об-ние; отв. ред. М. Л. Александров. — Л.: Наука. Ленинградское отделение, 1989. — 90 с.: ил. — Библиогр. в конце тр. — 0.50. |
| 43 |
|
Оптические измерения [Текст] : Учебное пособие для студентов вузов / А. Н. Андреев и др.. — М.: Логос, 2008. — 415 с.: ил.; 22 см. — (Новая университетская библиотека). — Библиогр. в конце разд. — ISBN 978-5-98704-173-2: 375.67. |
| 44 |
|
Электрорадиоизмерения: учеб. пособие для радиотехн. спец. вузов / В. И. Винокуров, С. И. Каплин, И. Г. Петелин ; под ред. В. И. Винокурова. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Высшая школа, 1986. — 351 с.: ил. — Предм. указ.: с. 346-348. — Библиогр.: с. 345. — 1.10.
|
| 45 |
|
Техника измерений и обеспечение качества: справ. книга / Д. Хофманн ; пер с нем. под ред. Л. М. Закса, С. С. Кивилиса. — М.: Энергоатомиздат, 1983. — 471 с.: ил. — Предм. указ.: с. 462-464. — Библиогр.: с. 441-461. — 2.80.
|
| 46 |
|
Электрорадиоизмерения: учебник для техникумов / Б. П. Хромой, Ю. Г. Моисеев. — М.: Радио и связь, 1985. — 288 с.: ил. — Библиогр.: с. 286. — 0.95.
|
| 47 |
|
Метрологическое обеспечение электронных средств измерений электрических величин: справ. книга / А. М. Федоров, Н. Я. Цыган, В. И. Мичурин. — Л.: Энергоатомиздат. Ленинградское отделение, 1987. — 208 с.: ил. — Предм. указ.: с. 201-202. — Библиогр.: с. 198-200. — 1.10.
|
| 48 |
|
Ремонт комбинированных приборов отечественных и зарубежных: справ. / В. М. Кузин, А. В. Кузин. — М.: Радио и связь, 1999. — 264 с.: ил. — (Массовая радиобиблиотека). — ISBN 5-256-01478-1: 44.80.
|
| 49 |
|
Физические основы кремниевой наноэлектроники: учебное пособие / Г. И. Зебрев. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. — 240 с.: ил. — (Нанотехнологии). — Библиогр.: с. 224-232. — ISBN 978-5-9963-0181-2: 200.00.
Книга посвящена описанию основных физических принципов, структур и методов моделирования, а также тенденций развития современной и перспективной кремниевой наноэлектроники с технологическими нормами менее 100 нм. Для преподавателей и студентов. специализирующихся по направлениям микро- и наноэлектроники, электроники, электронных измерительных систем. Может быть использована в учебном процессе при подготовке учебных курсов "Физические основы наноэлектроники", "Наноэлектронные технологии", "Физика микроэлектронных структур".
|
| 50 |
|
Метрологическое обеспечение измерений частотных и спектральных характеристик излучения лазеров: Всесоюзн. науч.-технич. конф. (20-22 окт. 1982 г.) : тезисы докладов / Гос. ком. СССР по стандартам, Харьк. обл. правл. НТО Приборпром, Науч.-произв. об-ние "Метрология" ; отв. ред. В. С. Соловьев. — Харьков: НПО "Метрология", 1982. — 200 с.: ил. — Библиогр. в конце некоторых докл. — 1.30. |