| 51 |
|
Физические основы кремниевой наноэлектроники: учебное пособие / Г. И. Зебрев. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. — 240 с.: ил. — (Нанотехнологии). — Библиогр.: с. 224-232. — ISBN 978-5-9963-0181-2: 200.00.
Книга посвящена описанию основных физических принципов, структур и методов моделирования, а также тенденций развития современной и перспективной кремниевой наноэлектроники с технологическими нормами менее 100 нм. Для преподавателей и студентов. специализирующихся по направлениям микро- и наноэлектроники, электроники, электронных измерительных систем. Может быть использована в учебном процессе при подготовке учебных курсов "Физические основы наноэлектроники", "Наноэлектронные технологии", "Физика микроэлектронных структур".
|
| 52 |
|
Нанотехнологии в электронике : сборник / под ред. Ю. А. Чаплыгина. — М.; : Техносфера.
:. — М.: Техносфера, 2013. — 686 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-353-0: 975.00.
Настоящее издание - второй выпуск книги «Нанотехнологии в электронике», вышедшей несколько лет назад. Каждую из частей книги представляет группа авторов, активно развивающих данное направление в Национальном исследовательском университете «МИЭТ». Коллектив авторов старался осуществить частичную преемственность материала, содержащегося в первом выпуске, однако структура книги существенно изменилась: группировка статей по условным разделам (теоретико-экспериментальные работы, методы исследований, технологии, приборы и устройства) представляется более правильной с точки зрения понимания общего направления работ в МИЭТ. Каждая из работ представляет собой законченный научный труд обзорного или обобщающего характера, либо является частью оригинальных исследований, полученных в последние 3-5 лет. Книга представляет интерес для специалистов, аспирантов и студентов, работающих в области нанотехнологии и смежных областях.
|
| 53 |
|
Спектроскопия внутреннего отражения / Н. Харрик ; пер. с англ.: В. М. Золотарева, В. А. Берштейна, под ред. В. А. Никитина. — М.: Мир, 1970. — [335] с.: граф. — Библиогр.: с. 282-301.
За последние годы метод спектрофотометрии нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) получил широкое распространение в практике научных исследований. В книге рассмотрены преимущества метода НПВО по сравнению с классическими методами пропускания и обычного отражения. Обсуждены возможности метода применительно к решению большого круга задач в области физики, химии, в различных областях техники, в биологии и т. д. Приводятся примеры как уже осуществленных, так и возможных приложений метода к изучению структуры поверхности массивных тел и тонких пленок, и в частности поверхностных свойств полупроводников. Рассмотрены приложения метода в области изучения полимеров, повеерхностных соединений, химических реакций, адгезии, адсорбции и т. д. Книга представляет большой интерес для специалистов-спектроскопистов, работающих в различных областях науки и техники, физиков, биологов.
|
| 54 |
|
Пространственно-спектральные функции пропускания акустооптических фильтров в задачах гиперспектральной съемки: автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.- мат. наук: 1.3.2 / [научн. рук. Пожар В. Э., офиц. опп. Гуревич Б. С., офиц. опп. Доброленский Ю. С. ]; Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН, Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" (М.), Научно-технологический и учебный центр акустооптики. — М., 2022. — 23 с.: граф. — на правах рукописи. — Библиогр.: с. 22-23. — Схема доступа: http://ntcup.ru/zashhita-dissertacii/.
|
| 55 |
|
Исследование влияния состава среды на кинетику растворения арсенида галлия в неводных растворах брома ийода: автореферат дис. ... канд. хим. наук : 02.00.04 / Н. М. Ступина ; науч. рук.: Г. А. Катаев, Л. Н. Возмилова, офиц. оппоненты: А. Г. Стромберг, В. Г. Столярчук; Томский ордена Трудового Красного Знамени государственный университет им. В. В. Куйбышева (Томск), Сибирский физико-технический институт (Томск). — Томск, 1973. — 13 с. — На правах рукописи.
|
| 56 |
|
Оптико-электронный комплекс для формирования и исследования характеристик пространственно-неоднородных и волноводных структур в поверхностно легированных кристаллах ниобата лития: автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук / [научн. рук. Мандель А. Е., офиц. опп. Тихомиров А. А. , Злоказов Е. Ю. ]; Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (Томск). — Томск, 2023. — 23 с.: граф. — Библиогр.: с. 23. — Схема доступа: http://postgraduate.tusur.ru/icila6hh.
|
| 57 |
|
Моделирование полей излучения в задачах космической спектрофотометрии / О. И. Смоктий. — Л.: Наука, 1986. — 352 с.: ил. — Библиогр.: с. 329-344. — 1.80.
|
| 58 |
|
Электронные спектры поглощения органических соединений и их измерение / В. Н. Толмачев. — Харьков: Вища школа, 1974. — 160, [1] с. — Библиогр.: с. 156-159. — 0.38.
|
| 59 |
|
Элементы теории структур / Л. А. Скорняков. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Наука, 1982. — 160 с. — Предм. указ.: с. 158-159. — 0.55.
|
| 60 |
|
Исследование начальной стадии электрической формовки тонкопленочных систем: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 05.27.02 / Ю. А. Баренгольц ; науч. рук. Ю. Б. Янкелевич; Томский государственный педагогический институт им. Ленинского Комсомола. — Томск, 1987. — 133 с. — Для служебного пользования. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 120-133.
|