| 1 |
|
Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / А. В. Раков. — М.: Советское радио, 1975. — 174, [2] с.: ил. — Библиогр.: с. 167-173. — 0.55.
|
| 2 |
|
Излучение и поглощение линии ртути 253,652 нм широко используется при решении многих задач спектроскопии, фотохимии, аналитики, магнитометрии, а также в других областях науки и техники. Своеобразные физико-химические свойства ртути и потребность в определении ее микроконцентраций (вплоть до фоновых значений) привели к выделению ртутных анализаторов в самостоятельный класс аналитических приборов. В работе систематизированы характеристики линии, которые необходимо учитывать в прикладных исследованиях (ширина контура, столкновительное уширение и сдвиг, зеемановское расщепление, изотопическая и сверхтонкая структура). Сведении, имеющиеся в литературе, дополнены результатами оригинальных исследований авторов.
|
| 3 |
|
Оптический и рентгеноспектральный анализ / В. И. Петров. — М.: Металлургия, 1973. — 285, [3] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 282-283. — 0.65.
|
| 4 |
|
Спектральные приборы / К. И. Тарасов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Л.: Машиностроение. Ленинградское отделение, 1977. — 366, [2] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 359-365. — 1.60.
|
| 5 |
|
Светосильные спектральные приборы / Под ред. К. И. Тарасова. — М.: Наука, 1988. — 264 с.: ил. — Библиогр.: с. 255-264. — ISBN 5-02-013841-X: 4.00. |
| 6 |
|
Химия надмолекулярных соединений / В. Б. Алесковский; Санкт-Петербургский государственный университет. — СПб.: Издательство Санкт-Петербургского университета, 1996. — 252, [3] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 244-249. — ISBN 5-288-01482-5.
|
| 7 |
|
Расчет спектральных интерференционных приборов / И. В. Скоков. — М.: Машиностроение, 1983. — 79 с.: ил. — Библиогр.: с. 78. — 0.25.
|
| 8 |
|
Приборы и методы физического металловедения : пер. с англ. / под ред. Ф. Вейнберга. — М.; : Мир.
:. — М.: Мир, 1974. — 363 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — 1.70.
|
| 9 |
|
Физико-химические методы анализа: практическое руководство / В. Б. Алесковский [и др.] ; под ред. В. Б. Алесковского, К. Б. Яцимирского. — 2-е изд., перераб. и доп. — Л.: Химия, 1971. — 423, [1] с.: ил., табл. — Предм. указ.: с. 421-424. — Библиогр. в конце глав. — 1.21. |
| 10 |
|
Методы молекулярной спектроскопии / Г. В. Сайдов, О. В. Свердлова. — СПб.: Профессионал, 2008. — 336, [1] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-91259-005-4: 1304.00.
В книге изложены теоретические и прикладные основы важнейших методов молекулярной спектроскопии; дана краткая характеристика спектральных приборов отечественного производства; описаны современные методики получения и обработки УВИ- и ИК-спектров; рассмотрены конкретные задачи, связанные с изучением строения и свойств веществ, находящихся в разных агрегатных состояниях; приведены справочные таблицы характеристических частот и оптических постоянных широкого ряда органических и неорганических соединений. Книга предназначена для работников химической, фармацевтической, парфюмерной и пищевой промышленности, приступающих к практическому освоению современных методов молекулярной спектроскопии. Она может быть полезна студентам-химикам и сотрудникам научно-производственных лабораторий, специализирующихся в области спектрохимического анализа.
|