| 1201 |
|
Теплофизические методы исследования полимеров / Ю. К. Годовский. — М.: Химия, 1976. — 215, [1] с.: ил., табл. — Библиогр. в конце глав. — 1.25.
|
| 1202 |
|
Голограммы квадратичной поляризуемости в твердых прозрачных диэлектриках: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / Ю. Е. Капицкий ; науч. рук.: Б. Я. Зельдович, Н. Д. Кундикова, офиц. оппоненты: Ю. Л. Колесников, Г. П. Пызин; Институт электрофизики УрО РАН (Екатеринбург), Южно-Уральский государственный университет (Екатеринбург), Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (Томск). — Челябинск, 2001. — 18 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 16-18.
|
| 1203 |
|
Правила оформления диссертаций: Методическое пособие / А. Г. Стрельникова. — СПб.: СпецЛит, 2009. — 62, [2] с.: ил. — ISBN 978-5-299-00384-0: 64.28.
|
| 1204 |
|
Теоретическое исследование автоэлектронной эмиссии из сверхпроводящих материалов: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.02, 01.04.13 / И. В. Уйманов ; науч. рук. Е. А. Литвинов, офиц. оппоненты: М. В. Медведев, Ю. Д. Панов; Институт электрофизики УрО РАН (Екатеринбург), Башкирский государственный университет (Уфа). — Екатеринбург, 2001. — 23 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 22-23.
|
| 1205 |
|
Оптические и теплофизические свойства металлов, керамик и алмазных пленок при высокотемпературном лазерном нагреве: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.21 / О. Г. Царькова ; науч. рук.: В. И. Конов, С. В. Гарнов, офиц. оппоненты: В. Н. Стрекалов, И. К. Красюк; Центр естественно-научных исследований (М.), Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Институт проблем лазерных и информационных технологий РАН. — М., 2001. — 19 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 17-19.
|
| 1206 |
|
Барьерная электрическая изоляция в высоковольтных изоляционных конструкциях: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.09.02 / В. И. Чичикин ; науч. рук. Ю. П. Похолков, науч. конс. С. М. Лебедев, офиц. оппоненты: Ю. П. Усов, В. Ф. Важов; Научно-исследовательский институт высоких напряжений (Томск), Томский политехнический университет (Томск), Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.). — Томск, 2001. — 17 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 17.
|
| 1207 |
|
Дефектообразование и массоперенос в ионных структурах при интенсивном облучении ионизирующей радиацией: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07 / Ю. М. Анненков ; офиц. оппоненты : Э. Д. Алукер, В. Н. Брудный, А. И. Непомнящих; Томский политехнический университет, Уральский государственный технический университет. — Томск, 2002. — 42 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 39-42.
|
| 1208 |
|
Измерена фрактальная размерность поверхности пористой керамики. Полученная зависимость от объема порового пространства имеет два излома, отражающие изменение характера пористости от изолированных пор до сообщающихся поровых кластеров. что позволяет получить корреляцию с известными особенностями в поведении пористых тел.
|
| 1209 |
|
Новые методы исследования полимеров / Институт химии высокомолекулярных соединений АН УССР. — Киев: Наукова Думка, 1975. — 199, [1] с.: ил., табл. — Библиогр. в конце ст. — 1.49. |
| 1210 |
|
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2006. — 377 с.: ил.; 24 см. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 168.00.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
|