Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 10 из 13671 для dc.subject any/relevant "СКАНИРУЮЩАЯ ЗОН ... ( 0.277 сек.)

1
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3-х томах / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (М.), Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; под ред. Б. Бхушана, пер. с англ. под общей ред. А. Н. Саурова.
:. — М.: Техносфера, 2010. — 1040 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 09-08-07050-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-263-2: 1600.00.
Первое издание справочника по нанотехнологиям. выпущенное крупнейшим немецким издательством "Шпрингер" в 2004 году, заявило о себе как об основном источнике информации в области научных знаний о нанотехнологиях. Справочник объединяет сведения по технология, механике. материаловедению и надежности. Второе издание увеличилось с 6 до 8 частей, с 38 до 58 глав. Первая часть - введение в наноструктуры и технологии изготовления микро- и наноструктур. включая используемые при этом методы и материалы. Вторая часть справочника посвящена МЭМС/НЭМС и БиоМЭМС/БиоНЭМС приборам. Различные типы сканирующей зондовой микроскопии рассмотрены в третьей части. Четвертая часть посвящена обору нанотрибологии и наномеханики. Обзор смазок на пленках молекулярной толщины представлен в пятой части справочника. Шестая часть знакомит читателя с некоторыми применениями нанотехнологий в промышленном масштабе. седьмая сфокусирована на надежности микроприборов. И, наконец, последняя посвящена технологической конвергенции, которую несут с собой нанотехнологии, в ней также рассмотрены социальные, этические и политические последствия нанотехнолоий. Предметный указатель приведен в конце третьего тома. Книга подготовлена опытным редактором и написана командой из 150 известных международных экспертов. Она адресована инженерам-механикам и инженерам-электрикам. специалистам по материаловедению, медикам и химикам, которые работают в области нано-, или в областях, так или иначе связанных с этой новой важнейшей технологией.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3-х томах / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (М.), Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; под ред. Б. Бхушана, пер. с англ. под общей ред. А. Н. Саурова.
:. — М.: Техносфера, 2010. — 832 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 09-08-07050-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-264-9: 1300.00.
Первое издание справочника по нанотехнологиям. выпущенное крупнейшим немецким издательством "Шпрингер" в 2004 году, заявило о себе как об основном источнике информации в области научных знаний о нанотехнологиях. Справочник объединяет сведения по технология, механике. материаловедению и надежности. Второе издание увеличилось с 6 до 8 частей, с 38 до 58 глав. Первая часть - введение в наноструктуры и технологии изготовления микро- и наноструктур. включая используемые при этом методы и материалы. Вторая часть справочника посвящена МЭМС/НЭМС и БиоМЭМС/БиоНЭМС приборам. Различные типы сканирующей зондовой микроскопии рассмотрены в третьей части. Четвертая часть посвящена обору нанотрибологии и наномеханики. Обзор смазок на пленках молекулярной толщины представлен в пятой части справочника. Шестая часть знакомит читателя с некоторыми применениями нанотехнологий в промышленном масштабе. седьмая сфокусирована на надежности микроприборов. И, наконец, последняя посвящена технологической конвергенции, которую несут с собой нанотехнологии, в ней также рассмотрены социальные, этические и политические последствия нанотехнолоий. Предметный указатель приведен в конце третьего тома. Книга подготовлена опытным редактором и написана командой из 150 известных международных экспертов. Она адресована инженерам-механикам и инженерам-электрикам. специалистам по материаловедению, медикам и химикам, которые работают в области нано-, или в областях, так или иначе связанных с этой новой важнейшей технологией.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3-х томах / Московский государственный институт электронной техники (технический университет) (М.), Научно-производственный комплекс "Технологический центр" ; под ред. Б. Бхушана, пер. с англ. под общей ред. А. Н. Саурова.
:. — М.: Техносфера, 2010. — 864 с.: ил. — Изд. осуществлено при финансовой поддержке РФФИ по проекту № 09-08-07050-д. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-262-5: 1300.00.
Первое издание справочника по нанотехнологиям. выпущенное крупнейшим немецким издательством "Шпрингер" в 2004 году, заявило о себе как об основном источнике информации в области научных знаний о нанотехнологиях. Справочник объединяет сведения по технология, механике. материаловедению и надежности. Второе издание увеличилось с 6 до 8 частей, с 38 до 58 глав. Первая часть - введение в наноструктуры и технологии изготовления микро- и наноструктур. включая используемые при этом методы и материалы. Вторая часть справочника посвящена МЭМС/НЭМС и БиоМЭМС/БиоНЭМС приборам. Различные типы сканирующей зондовой микроскопии рассмотрены в третьей части. Четвертая часть посвящена обору нанотрибологии и наномеханики. Обзор смазок на пленках молекулярной толщины представлен в пятой части справочника. Шестая часть знакомит читателя с некоторыми применениями нанотехнологий в промышленном масштабе. седьмая сфокусирована на надежности микроприборов. И, наконец, последняя посвящена технологической конвергенции, которую несут с собой нанотехнологии, в ней также рассмотрены социальные, этические и политические последствия нанотехнолоий. Предметный указатель приведен в конце третьего тома. Книга подготовлена опытным редактором и написана командой из 150 известных международных экспертов. Она адресована инженерам-механикам и инженерам-электрикам. специалистам по материаловедению, медикам и химикам, которые работают в области нано-, или в областях, так или иначе связанных с этой новой важнейшей технологией.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Нанотехнологии в электронике : сборник / под ред. Ю. А. Чаплыгина. — М.; : Техносфера.
:. — М.: Техносфера, 2013. — 686 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-353-0: 975.00.
Настоящее издание - второй выпуск книги «Нанотехнологии в электронике», вышедшей несколько лет назад. Каждую из частей книги представляет группа авторов, активно развивающих данное направление в Национальном исследовательском университете «МИЭТ». Коллектив авторов старался осуществить частичную преемственность материала, содержащегося в первом выпуске, однако структура книги существенно изменилась: группировка статей по условным разделам (теоретико-экспериментальные работы, методы исследований, технологии, приборы и устройства) представляется более правильной с точки зрения понимания общего направления работ в МИЭТ. Каждая из работ представляет собой законченный научный труд обзорного или обобщающего характера, либо является частью оригинальных исследований, полученных в последние 3-5 лет. Книга представляет интерес для специалистов, аспирантов и студентов, работающих в области нанотехнологии и смежных областях.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел.
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Наноструктурные покрытия / под ред.: А. Кавалейро, Д. Хоссона де, пер. с англ. А. В. Хачояна под ред. Р. А. Андриевского. — М.: Техносфера, 2011. — 752 с.: цв.ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-182-6: 1300.00.
Сборник подготовлен международным коллективом ведущих специалистов в области нанонауки и наноструктурных покрытий. Изложены основные сведения о синтезе сверхтвердых пленок на основе тугоплавких соединений, их структуре, фазовом составе. физико-механических свойствах и сферах применения. Подробно характеризуются методы исследования покрытий: просвечивающая электронная микроскопия, наноиндентирование и компьютерный эксперимент. детально анализируются теоретические и опытные данные о природе деформации и разрушения сверхтвердых покрытий. Особое внимание уделено их трибологическим характеристиками и термической стабильности. Сборник будет полезен ученым, инженерам и преподавателям высшей школы, студентам и аспирантам, специализирующимся в области нанотехнологий, наноматериалов и нанопокрытий.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Панин, Алексей Викторович.
Применение фрактального описания для анализа изображений в сканирующей зондовой микроскопии: научное издание / А. В. Панин, А. Р. Шугуров; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования / Рос. акад. наук, Отд-ние физических наук РАН. — 2003. — N6 . — С. 62-69. — ISSN 0207-3528.
Разработана методика аттестации шероховатости поверхности твердых тел, основанная на вычислении фрактальной размерности изображений, получаемых с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Путем тестирования на модельных самоаффинных броуновских поверхностях определены условия корректного измерения фрактальной размерности. Разработанный алгоритм применен для численного описания шероховатости поверхности тонких пленок SiO2, нанесенных при различных температурах. Показано, что в отличие от перепада высоты и среднеквадратичной шероховатости, фрактальная размерность демонстрирует хорошую корреляцию с морфологией поверхности тонких пленок оксида кремния.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Успехи наноинженерии: электроника, материалы, структуры: переводное издание / под ред.: Д. Дэвиса, М. Томпсона, пер. с англ. А. Е. Грахова, под ред. П. П. Мальцева. — Москва: Техносфера, 2011. — 491 с.: ил.; 25 см. — (Мир физики и техники). — 5-летию журн. "Наноиндустрия" посвящается. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 978-1-86094-751-3 (англ.). — ISBN 978-5-94836-292-2: 975.00.
Новейшие технологии включают в себя разработку, описание, а также производство и практическое использование самых разнообразных наноразмерных структур, устройств и систем. В междисциплинарном поле этой области исследований пересекаются и перекрываются экспериментальные и теоретические разработки химиков, физиков, инженеров-электронщиков, механиков, материаловедов, биохимиков, молекулярных биологов, Именно сочетание различных подходов и методов является характерной особенностью наиболее интересных и многообещающих разработок в нанотехнологиях. Книга представляет собой сборник последних результатов, полученных молодыми английскими учеными, многие из которых являлись стипендиатами Королевского общества или Исследовательского совета инженерных и физических наук Великобритании. Проводимые или работы ведутся на самых передовых рубежах познания, а в более широком контексте создают панораму современного состояния нанонауки и нанотехнологии вообще.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Пенкин, Николай Семенович.
Основы трибологии и триботехники: [учебное пособие для вузов по специальности 170600 "Машины и аппараты пищевых производств"] / Н. С. Пенкин, А. Н. Пенкин, В. М. Сербин ; рец.: В. Г. Павлов, В. Г. Копченков. — Изд. 2-е, стер. — Москва: Машиностроение, 2011. — 207 с.: ил.; 21 см. — (Для вузов). — Библиогр.: с. 205-207. — ISBN 978-5-94275-583-6: 363.00.
В учебном пособии, в соответствии с программой дисциплины "Основы трибологии", разработанной специалистами Ассоциации инженеров-трибологов России, изложены основные положения контактного взаимодействия твердых тел, свойства и топография их поверхностей, природа и виды внешнего трения, влияние различных факторов на трение. Описаны различные виды изнашивания, роль смазки, температуры, фрикционности и антифрикционности материалов для деталей сопряжений, основные способы повышения износостойкости материалов и деталей машин. Приведены расчетные методы оценки интенсивности изнашивания наиболее часто встречающихся трибосопряжений, Рассматриваются основные положения моделирования трибологических процессов, методы испытания на трение и изнашивание, а также роль трибологии в решении социально-экономических проблем, обусловленных трибологическим источникам: потери от недовыпуска продукции, потери всех видов ресурсов, ухудшение экологичности, энергетической эффективности различных видов транспорта и др. Пособие рассчитано на студентов технических специальностей, изучающих эту дисциплину или ее разделы в других дисциплинах, аспирантов, научных и инженерно-технических специалистов в области трения, износа и смазки в машинах.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Российская конференция по электронной микроскопии.
XVIII Российская конференция по электронной микроскопии: Тезисы докладов / Рос. АН, Науч. совет по электронной микроскопии, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии. — Черноголовка: Богородский печатник, 2000. — 338 с.: ил. — Авт. указ.: с. 331-338. — ISBN 5-89589-020-2: 76.80.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи