91 |
|
Закономерности формирования гетерофазных субмикрокристаллических состояний и физико-механических свойств при интенсивной пластической деформации сталей с различным фазовым составом: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Г. Г. Захарова ; науч. рук. Е. Г. Астафурова; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск). — Томск, 2012. — 141 л.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 127-141.
|
92 |
|
Методами склерометрии и атомно-силовой микроскопии исследованы механизмы износа гальванических покрытий AuNi и AuCo. Показано, что царапание при малых нагрузках может использоваться для сравнительного анализа износостойкости при абразивном износе металлических покрытий. Установлено, что развитый рельеф поверхности, обусловленный формированием агломератов зерен, обеспечивает более высокую износостойкость покрытий AuCo по сравнению в гладкой поверхностью покрытий AuNi за счет диссипации упругой энергии контактного взаимодействия индентора с поверхностью образца.
|
93 |
|
Методом атомно-силовой микроскопии исследованы закономерности гофрирования тонких пленок Al на подложке Si с подслоем полистирола при термическом воздействии. Измерение амплитуды и длины волны складок позволило выявить стадийность процесса гофрирования при различных температурах. Показано, что эволюция складок гофра в процессе отжига регулируется периодическим распределением нормальных и касательных напряжений вдоль границы раздела пленка-подслой.
|
94 |
|
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00.
|
95 |
|
Растровая электронная микроскопия почв [Текст] / Г.В. Добровольский, С.А. Шоба. — М.: Изд-во Моск. ун-та, 1978. — 141, [3] с.: ил. — Библиогр.: с. 132-142. — 1.80.
|
96 |
|
Physical principles of electron microscopy: an introd. to TEM, SEM, a. AEM / R. F. Egerton. — New York: Springer, 2005. — XII,202 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr.: p. 195-196. — ISBN 978-0-387-25800-3: 180.00.
|
97 |
|
Температурная микроскопия металлов и сплавов: научное издание / Государственный научно-исследовательский институт машиноведения АН СССР; отв. ред. М. Г. Лозинский. — М.: Наука, 1974. — 143 с.: ил. — 0.62.
В сборнике освещены вопросы совершенствования методов и аппаратуры для микроструктурного исследования процессов деформации и разрушения металлических материалов. Приведены результаты изучения корреляционных зависимостей между структурным состоянием и механическим поведением промышленных сталей и сплавов некоторых тугоплавких материалов. Рассчитано на исследователей и практиков металловедов, металлофизиков, металлургов, конструкторов, машиностроителей.
|
98 |
|
Компьютерная микроскопия / В. Г. Пантелеев, В. Г. Егорова, Е. Н. Клыкова. — М.: Техносфера, 2005. — 304 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр.: с. 302-303. — ISBN 5-94836-025-3: 210.00.
|
99 |
|
Дефекты в металлах / А. Л. Суворов ; отв. ред. В. Н. Рожанский, рецензенты : Л. И. Иванов, В. В. Кирсанов. — М.: Наука, 1984. — 176 с.: граф. — (Наука и технический прогресс). — Библиогр.: с. 175-176. — 0.60.
Дана характеристика металлов, их наиболее важных свойств. Рассмотрены основные типы и параметры дефектов кристаллической структуры металлов и сплавов, условия их возникновения и удаления. Показано, как эти дефекты влияют на различные свойства металлов, как можно предупредить или изменить это влияние. Описаны созданные к настоящему времени методы прямого микроскопического наблюдения дефектов различного типа, их косвенной регистрации. Доктор физико-математических наук А. Л. Суворов - специалист в области физики радиационного дефектообразования и микроскопического исследования дефектов в металлах, автор многих работ на эту тему.
|
100 |
|
Методом просвечивающей дифракционной электронной микроскопии проведены исследования микроструктуры и фазового состава титанового става ВТ1-0, имплантированного ионами алюминия. Исследования выполнены на зернах двух типов; 1) крупные зерна (dcp = 1.4 мкм) и 2) мелкие зерна (dcp = 0.5 мкм). Рассчитана величина упрочнения для разного типа зерен по глубине ионно-легированного слоя.
|