| 91 |
|
Панкратические системы / И. И. Пахомов. — М.: Машиностроение, 1976. — 160 с.: ил. — Библиогр.: с. 156-160. — 0.54.
|
| 92 |
|
JavaScript и jQuery: исчерпывающее руководство / Д. Макфарланд ; пер. с англ. С. В. Черникова. — 2-е изд. — М.: ЭКСМО, 2012. — 687 с.: ил. — (Мировой компьютерный бестселлер). — Парал. тит. лист англ. — Предм. указ.: с. 680-687. — ISBN 978-5-699-56185-8.
JavaScript - основной инструмент веб-разработчиков, позволяющий делать интернет-страницы интерактивными. Перед вами - наиболее полное и великолепно структурированное руководство по JavaScript, которое позволит в совершенстве овладеть этим востребованным сейчас языком программирования. В книге уделено большое внимание библиотеке jQuery, содержащей готовые фрагменты JavaScrip-кода и очень популярной технологии Ajax.
|
| 93 |
|
Информатика. — М.: ВИМИ, 1993. — 72 с. — (Автоматизированные системы управления). — 2.000. |
| 94 |
|
Оптические покрытия / Э. С. Путилин, Л. А. Губанова. — СПб.: Лань, 2016. — 267, [1] с.: ил. — (Учебники для вузов. Специальная литература). — Библиогр.: с. 265. — 1310.00.
Рассмотрен широкий круг вопросов, посвященных сведениям о методах расчета спектральных характеристик многослойных систем, образованных прозрачными, непрозрачными и слабо поглощающими слоями. Большое внимание уделено оптическим характеристикам однослойных, двухслойных, трехслойных и многослойных систем. Дано представление о влиянии угла наклона падающего излучения на характер изменения спектральных коэффициентов отражения и пропускания. Учебник предназначен для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки "Оптотехника", "Лазерная техника и лазерные технологии", "Фотоника и оптоинформатика" и другим физическим и технологическим направлениям подготовки.
|
| 95 |
|
Аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия / Ю. Я. Томашпольский. — М.: Научный мир, 2006. — 109 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 98-109. — ISBN 5-89176-404-0: 208.00.
На основе установленных в последние десятилетия новых закономерностей выхода из вещества эмиссии вторичных электронов и модельных представлений, связывающих температурные, композиционные, токовые и полевые зависимости интенсивности эмиссии с химическим и фазовым составом, атомной и электронной структурой, фазовыми переходами и другими фундаментальными характеристиками, развит комплекс новых методов - аналитическая вторично-электронная эмиссиометрия. В монографии впервые сделана попытка обобщить многочисленные, но разрозненные теоретические и экспериментальные результаты, характеризующие аналитические достижения вторично-электронной эмиссиометрии. Книга предназначена для широкого круга аналитиков, работающих над решением проблем локальной, высокочувствительной, неразрушающей качественной и количественной характеризации вещества, а также для специалистов в химии, физике, материаловедении, геологии, металлургии, микро- и наноэлектронике. Книга может быть полезна также для студентов родственных специальностей и частично - для студентов колледжей радиотехнического направления.
|
| 96 |
|
Растровая электронная микроскопия почв [Текст] / Г.В. Добровольский, С.А. Шоба. — М.: Изд-во Моск. ун-та, 1978. — 141, [3] с.: ил. — Библиогр.: с. 132-142. — 1.80.
|
| 97 |
|
Микроконтроллеры Microchip rfPIC со встроенным маломощным радиопередатчиком: справ. / В. С. Яценков. — М.: Горячая линия - Телеком, 2006. — 344 с.: ил. — (Современная электроника). — ISBN 5-93517-286-0: 185.00.
|
| 98 |
|
Explosive Electron Emission / G. A. Mesyats. — Ekaterinburg: URO-Press, 1998. — 239 с.: ил. — Subject Index : p. 236-239. — ISBN 5-7691-0881-5.
|
| 99 |
|
Вторичная электронная эмиссия / И. М. Бронштейн, Б. С. Фрайман. — М.: Наука, 1969. — 407 с.: ил. — (Физико-математическая библиотека инженера). — Библиогр.: с. 354-407. — 1.52.
|
| 100 |
|
Physical principles of electron microscopy: an introd. to TEM, SEM, a. AEM / R. F. Egerton. — New York: Springer, 2005. — XII,202 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr.: p. 195-196. — ISBN 978-0-387-25800-3: 180.00.
|