В монографии рассмотрены новые итерационные методы и алгоритмы вычислительной томографии, позволяющие восстанавливать трехмерные изображения и функции распределения свойств объектов из неполных данных. Описаны новые параллельные итерационные алгоритмы. Рассмотрены вопросы эффективности решения задач рентгеновской томографии с неполными данными, приведены результаты численных расчетов. Исследована магнитошумоввая вычислительная томография, предназначенная для восстановления функции послойного распределения по глубине изучаемого параметра поверхностного слоя ферромагнитных материалов, а также прямая задача для вихретоковой тографии поводящих изделий. Большое внимание уделено исследованию реконструктивных оболочечных методов томографического контроля, которые имеют ряд существенных преимуществ, важных для реконструкции бинарных объектов контроля. Эти методы позволяют эффективно использовать априорную информацию о внутренней структуре промышленных объектов контроля, относящихся к классу кусочно-однородных объектов. Описанные методы предназначенные для решения задач неразрушающего контроля и медицинской диагностики. Предназначена для научных и инженерно-технических работников, аспирантов и студентов, занимающихся вопросами решения итерационных томографических задач.

Новейшие технологии включают в себя разработку, описание, а также производство и практическое использование самых разнообразных наноразмерных структур, устройств и систем. В междисциплинарном поле этой области исследований пересекаются и перекрываются экспериментальные и теоретические разработки химиков, физиков, инженеров-электронщиков, механиков, материаловедов, биохимиков, молекулярных биологов, Именно сочетание различных подходов и методов является характерной особенностью наиболее интересных и многообещающих разработок в нанотехнологиях. Книга представляет собой сборник последних результатов, полученных молодыми английскими учеными, многие из которых являлись стипендиатами Королевского общества или Исследовательского совета инженерных и физических наук Великобритании. Проводимые или работы ведутся на самых передовых рубежах познания, а в более широком контексте создают панораму современного состояния нанонауки и нанотехнологии вообще.

Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии. Книга предназначена для студентов старших курсов, которые хотели бы углубить свои знания об основных физических принципах микроскопии, для молодых специалистов, которые пользуются электронными микроскопами, а также для преподавателей вузов и исследователей.