| 1211 |
|
Фотометрические методы определения следов неорганических соединений = PHOTOMETRIC METHODS IN INORGANIC TRACE ANALYSIS / Э. Упор, М. Мохаи, Д. Новак ; пер. с англ. Е. А. Краснушкиной, под ред. С. Б. Саввина. — М.: Мир, 1985. — 359, [1] с.: ил., табл. — Предм. указ.: с. 350-355. — Библиогр. в конце разд. — 4.10.
|
| 1212 |
|
Хромато-распределительный метод / В. Г. Березкин [и др.]; Институт нефтехимического синтеза им. А. В. Топчиева АН СССР. — М.: Наука, 1976. — 111, [1] с.: ил., табл. — Библиогр. в конце глав. — 0.51. |
| 1213 |
|
Электронно-зондовый микроанализ в исследовании полимеров / А. Е. Чалых, А. Д. Алиев, А. Е. Рубцов ;отв. ред. А. П. Захаров; Институт физической химии АН СССР. — М.: Наука, 1990. — 191, [1] с.: ил., табл. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-02-001355-2: 2.60.
|
| 1214 |
|
Хемометрика / М. А. Шараф, Д. Л. Иллмэн, Б. Р. Ковальски ; пер. с англ. А. Н. Мариничева, А. К. Чарыкова, под ред. И. А. Ибрагимова, А. К. Чарыкова. — Л.: Химия, 1989. — 269, [3] с.: ил., табл. — Библиогр.: с. 262-269. — ISBN 5-7245-0361-1: 2.10.
|
| 1215 |
|
Современные проблемы физики и технологии: сб. ст. молодых ученых : II школа-семинар молодых ученых, Томск, 5-7 февраля 2001 г. / Томский государственный университет, Сибирский физико-технический институт, Институт оптического мониторинга СО РАН, Институт сильноточной электроники СО РАН, Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Центр исследования проблем научной молодежи Сибири, Областная ассоциация молодых ученых и специалистов. — Томск: Издательство Томского университета, 2001. — 298 с.: ил. — ISBN 5-7511-1431-0. |
| 1216 |
|
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный анализ: [учеб. пособие для вузов по направлениям "Металлургия", "Физическое материаловедение"] / М. М. Криштал [и др.] ; под общ. ред. М. М. Криштала, рец.: А. М. Глезер, В. С. Кондратенко. — М.: Техносфера, 2009. — 206 с.: ил.; 22 см. — (Мир физики и техники). — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-94836-200-7: 330.31.
Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии, интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, аспирантов и студентов, повышающих свою квалификацию или обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением. Ее можно использовать как вводный курс для операторов или непосредственных пользователей санирующих электронных микроскопов. Книга также будет полезна специалистам, которым приходится ставить задачи, требующие применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
|
| 1217 |
|
Численный анализ ударного взаимодействия двух анизотропных тел: научное издание / П. А. Радченко, А. В. Радченко; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Томский государственный университет (Томск), Томский государственный архитектурно-строительный университет (Томск) // Физическая мезомеханика. — 2005. — Том8, NСпец. вып. . — С. 45-49. — ISSN 1029-9599. Численно моделируется процесс ударного взаимодействия двух анизотропных тел: цилиндрического ударника и пластины. Моделирование проводится методом конечных элементов в трехмерной постановке. Исследовано влияние ориентации осей симметрии анизотропного материала на разрушение.
|
| 1218 |
|
Внутреннее вращение молекул = INTERNAL ROTATION IN MOLECULES / под ред. В. Дж. Орвил-Томаса, пер. с англ. Ю. А. Пентина. — М.: Мир, 1977. — 510, [2] с.: ил., табл. — Предм. указ.: с. 491-504. — Библиогр. в конце разд. — 5.10. |
| 1219 |
|
Численное исследование формирования переходной зоны между частицами и матрицей в процессе неравновесной электронно-лучевой модификации поверхности композиционного материала: научное издание / Н. В. Букрина [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Физическая мезомеханика. — 2005. — Том8, NСпец. вып. . — С. 53-56. — ISSN 1029-9599. Предложена модель формирования неравновесного поверхностного слоя в процессе электронно-лучевой модификации композиционного материала. Учитываются особенности процессов переноса в матрице и во включениях, а также характер границ раздела между ними. Приведены примеры численного исследования модели для случая идеального контакта между частицами и матрицей. Показан различный характер формирования диффузионных зон в окрестности частиц, расположенных на разном расстоянии от внешней поверхности.
|
| 1220 |
|
Новые высокочистые материалы: тезисы докладов симпозиума / Новые высокочистые материалы (1-2 декабря 2008 г. ; Нижний Новгород) , Отделение химии и наук о материалах РАН, Научный совет РАН по химии высокочистых веществ, Научный совет РАН по аналитической химии, Институт химии высокочистых веществ РАН (Нижний Новгород), Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского (Нижний Новгород); под ред. М. Ф. Чурбанова. — Нижний Новгород: Николаев Ю. А., 2008. — 222 с. — Симпозиум посвящен 90-летию акад. Г. Г. Девятых и 20-летию Ин-та химии высокочистых веществ РАН. — ISBN 978-5-93529-043-6: 107.00.
|