В книге изложены теоретические и прикладные основы важнейших методов молекулярной спектроскопии; дана краткая характеристика спектральных приборов отечественного производства; описаны современные методики получения и обработки УВИ- и ИК-спектров; рассмотрены конкретные задачи, связанные с изучением строения и свойств веществ, находящихся в разных агрегатных состояниях; приведены справочные таблицы характеристических частот и оптических постоянных широкого ряда органических и неорганических соединений. Книга предназначена для работников химической, фармацевтической, парфюмерной и пищевой промышленности, приступающих к практическому освоению современных методов молекулярной спектроскопии. Она может быть полезна студентам-химикам и сотрудникам научно-производственных лабораторий, специализирующихся в области спектрохимического анализа.

Рассмотрены интерференционные слои, наносимые на шлиф материала с целью получения контраста и изображения структурных составляющих, обеспечивающего возможность автоматического определения характеристик структуры. Изложены физические основы контрастирования с помощью интерференционных слоев. Уделено внимание оптическим характеристикам структуры слоя. Даны рекомендации о выборе материалов для интерференционных слоев. Приведены примеры автоматического определения структурных характеристик и различных источники погрешностей, а также автоматического анализа структуры, выявленной с помощью интерференционных слоев на шлифах различных материалов. Для инженерно-технических работников и специалистов предприятий и организаций различных отраслей промышленности.