Влияние пористости на внутреннее трение в металлах: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / А. Н. Алексеев ; науч. рук.: В. Е. Панин, В. В. Поляков, оппоненты: Е. Ф. Дударев, Ю. П. Шаркеев; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Томский политехнический университет (Томск). — Томск, 1995. — 20 с.: граф. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 19-20.

Взаимосвязь между проявлением высокоскоростной сверхпластичности и зернограничного внутреннего трения в наноструктурных сплавах Al-Mg-Li-Zr и Al-Mg-Li-Zr-Sc / Е. Ф. Дударев [и др.]; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск), Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск) // Физикохимия ультрадисперсных (нано-) систем. — 2002. — . — С. 273-274.

Вопросы коррекции высокочастотных искажений в транзисторных видеоусилителях телевизионных датчиков: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.12.03 / В. Ф. Коновалов ; науч. рук.: И. Н. Пустынский, В. М. Ицкович, офиц. оппоненты: В. Н. Детинко, Ю. А. Волков; Томский политехнический институт им. С. М. Кирова (Томск), Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники (Томск), Всесоюзный научно-исследовательский институт телевидения и радиовещания (М.). — Томск, 1973. — 25 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 24-25.

Исследование возможности применения ультразвука для определения поверхностной плотности продуктов прядения: автореферат дис. ... канд. техн. наук : 05.02.11 / П. Н. Бобров ; науч. рук.: Л. М. Ананьев, Ф. К. Волосников, офиц. оппоненты: М. П. Носов, П. И. Гаськов; Томский политехнический институт им. С. М. Кирова (Томск), Барнаульский научно-исследовательский институт текстильной промышленности (Барнаул), Центральный научно-исследовательский институт хлопчатобумажной промышленности (М.). — Томск, 1974. — 24 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 24.

Физические принципы сенсоров на основе поверхностных электромагнитных волн в структурах металл-проводник: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.21 / А. А. Белоглазов ; науч. рук. П. И. Никитин, офиц. оппоненты: В. А. Сычугов, А. Н. Георгобиани; Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Научно-исследовательский центр по технологическим лазерам РАН (Троицк). — М., 1997. — 22 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 18-22.

Лазерное напыление пленок аморфных магнетиков и полумагнитных полупроводников и их исследование: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.21 / А. М. Горбанзаде ; науч. рук. П. И. Никитин, офиц. оппоненты: А. К. Звездин, Ф. А. Пудонин; Институт общей физики им. А. М. Прохорова РАН (М.), Научно-исследовательский центр по технологическим лазерам РАН (Троицк). — М., 1998. — 18 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 16-18.

Датчики измерительных систем : в 2-х кн. / Ж. Аш [и др.] ; пер. с фр. под ред. А. С. Обухова. — М.; : Мир. — 5-03-001249-4.

Датчики измерительных систем : в 2-х кн. / Ж. Аш [и др.] ; пер. с фр. под ред. А. С. Обухова. — М.; : Мир. — 5-03-001249-4.

Основы оптоэлектроники / Я. Суэмацу [и др.] ; пер. с яп. Э. Г. Азербаева [и др.], под ред. К. М. Голанта. — Б.м.: Мир, 1988. — 285 с.: ил. — Предм. указ.: с. 275-283. — ISBN 5-03-001207-9: 1.60.