Излагаются теоретические аспекты используемые в настоящее время основных методов глубокой очистки веществ. Большое внимание уделяется широко распространенным дистилляционным и кристаллизационным методам. Во втором издании (1-е - в 1974 г.) добавлены новые разделы, посвященные расчету относительной летучести примесей, периодической ректификации, загрязняющему действию материала аппаратуры при кристаллизационной очистке веществ, глубокой очистке от взвешенных частиц. Книга может быть полезна для сотрудников научно-исследовательских институтов и специалистов промышленных предприятия, работающих в области химии веществ высокой чистоты.

В книге изложена теория строения молекул и химической связи. Кратко рассмотрена квантовомеханическая теория водородоподобного и многоэлектронных атомов. При изложении квантовомеханической теории химической связи и строения молекул использован метод молекулярных орбиталей. Описаны во взаимной связи электронное строение и свойства двухатомных и простых неорганических молекул, координационных и ароматических соединений и полиенов, а также межмолекулярное взаимодействие.

В сборнике описаны исследования и расчеты, выполняемые в процессе разработки алгоритма измерения и определения приписанных характеристик погрешности аттестуемых и стандартизируемых методик выполнения измерений (в области гравиметрии, атомной абсорбции, ионометрии, пенетрометрии, мокрого рассева, измерений белизны и др.). Освещены вопросы выбора и обоснований наиболее подходящего метода оценки характеристик погрешности и другие методологические аспекты разработки программы определения приписанных характеристик погрешности измерений, проведения исследований по этой программе и обработки их результатов. Приведены сведения о разработанных в химической промышленности стандартных образцах, включенных в государственный реестр. Описаны уравнения зависимости плотности, вязкости и теплоемкости от параметров химического состава некоторых химико-технологических систем. Обобщены опыт проведения анализа уровня метрологического обеспечения измерений и метрологической аттестации методик. Рассмотрены вопросы оценивания достоверности результатов испытаний химической продукции, влияния точности измерений на ее качество и технико-экономическую эффективность производства, а также другие вопросы организации и совершенствования метрологического обеспечения как средства обеспечения качества выпускаемой продукции. Сборник предназначен для работников предприятий, научно-исследовательских организаций и учебных заведений, получающих и использующих результаты измерений параметров химического состава и свойств веществ.

В книге рассмотрены теория и практика экспериментов в области физики высоких энергий с применением схем совпадений, показаны возможность использования простых инженерных решений для оптимизации экспериментов на совпадениях при временных измерениях по любым заданным критериям. Приведены обоснованная классификация схем совпадений и соответствующая терминология. Много внимания уделено логике построения различных экспериментальных исследований в области низких, средних и высоких энергий, обработке результатов с помощью ЭВМ. Книга рассчитана на инженеров, физиков экспериментаторов, с также на студентов и аспирантов.

The regular grid generation method was generalized for a 3D region based on the solid mechanics equations that describe deformation of a finite volume. Test calculations of fracture of ceramic composites with inclusions are represented which are based on the developed model of quasi-brittle media with regard to damage accumulation.

Методом МБР изучены упругие и фотоупругие свойства и рэлеевское рассеяние ряда оптических и лазерных стекол, обнаружена связь рэлеевского рассеяния и эффективности межионных взаимодействий в стеклах, исследованы потери и поляризация света в световодах. Исследованы частотная и температурная зависимости порогов лазерного разрушения щелочногалоидных кристаллов. Разработана методика и проведены исследования обьемного лазерного разрушения ряда полупроводников, непрозрачных в видимой области спектра. Книга предназначена для специалистов в области квантовой электроники, волоконно-оптической связи, физики твердого тела и молекулярной оптики.