| 81 |
|
Нанокомпозиты: исследования, производство и применение: [материалы конф., Сочи, 2004 г.] / Нанокомпозиты (2004 ; 27.03.04-01.10.04 ; Сочи) ; под ред. А. А. Берлина, И. Г. Ассовского. — М.: Торус Пресс, 2004. — 224 с.: ил.; 21 см. — Рез. ст. англ., ч. текста англ. — Библиогр. в конце докл. ; Авт. указ.: с. 214-216. — ISBN 5-94588-028-0: 400.00.
Сборник содержит расширенные тезисы докладов, представленных на Международной научно-практической конференции по перспективным композиционным материалам (NC'04): "Нанокомпозиты-2004", г. Сочи, Россия, 27.03.04-01.10.04. Авторы статей являются международными экспертами в области научных исследований, производства и применения новых и перспективных композиционных материалов. Работы отражают современное состояние проблемы и выявляют наиболее перспективные направления в развитии материалов и технологий. Конференция была поддержана Международным научно-техническим центром (МНТЦ), Институтом химической физики им. Н. Н. Семенова РАН, Всероссийским институтом авиационных материалов (ВИАМ), Федеральным центром двойных технологий "Союз", Центральным научно-исследовательским институтом специального машиностроения (ЦНИИСМ), ОАО НПО "Искра" и Mach I, Inc.
|
| 82 |
|
Биофизические механизмы воздействия низкоинтенсивного лазерного излучения на биологические ткани и оптические методы диагностики их состояния: автореферат дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 03.00.02 / В. Е. Прокопьев ; науч. конс. В. В. Удут, офиц. оппоненты : Г. Хлебопрос, А. С. Проворов, Ю. А. Дыхно; Институт сильноточной электроники СО РАН, ГУ НИИ Фармакологии ТНЦ СО РАМН, Томский гос. ун-т, Институт оптики атмосферы СО РАН. — Томск, 2004. — 42 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 37-42.
|
| 83 |
|
Новые приборы корпускулярной диагностики многокомпонентной плазмы и экспериментальные результаты исследования разрядов в скрещенных электрическом и магнитном полях: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / Нгуен Тхе Тханг ; науч. рук. работы Н. А. Строкин, офиц. оппоненты : А. Т. Алтынцев, В. Л. Паперный; Иркутский нац. исслед. технический ун-т Ин-т сильноточной электроники СО РАН (Томск). — Иркутск, 2020. — 22 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 20-22.
|
| 84 |
|
|
| 85 |
|
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.
|