26 |
|
Основные формулы физики: справочное издание / составлено группой авторов под ред. Д. Мензела, пер. с англ. под ред. И. С. Шапиро. — М.: Издательство иностранной литературы, 1957. — [657] с. — 3.54.
|
27 |
|
Разработка и исследование лазерных триангуляционных приборов для промышленного размерного контроля: дис. ... / С. В. Плотников; Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН (Новосибирск). — Новосибирск, 2000. — [88] л. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 81-86.
|
28 |
|
Оптика кристаллов и наноструктур: материалы международной научной конференции. — Хабаровск: ДВГУПС, 2008. — 199, [1] с.: ил.; 21 см. — (Приоритетные национальные проекты). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-262-00423-2: 426.18.
В сборнике приведены актуальные и значительные научные результаты в области оптических анизотропных кристаллов и материалов со свойствами наноструктур. Материалы сборника предназначены для инженеров, научных сотрудников, докторантов, аспирантов и студентов старших курсов.
|
29 |
|
Субволновая фокусировка света с помощью диэлектрических элементов микрооптики: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / С. С. Стафеев ; науч. рук. В. В. Котляр, оппоненты: Е. К. Башкиров, В. П. Захаров; Самарский Государственный аэрокосмический университет им. акад. С. П. Королева (Самара), каф. технической кибернетики, Институт систем обработки изображений РАН, Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН (Самара), Самарский филиал. — Самара, 2012. — 16 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 15-16.
|
30 |
|
Предложен новый подход к восстановлению фазы из интерферограммы, заключающийся в применении классического метода прослеживания интерференционных полос. но на выборке, в которой интерференционные полосы меняют число и ориентацию. Восстановленные из отдельных интерферограмм волновые фронты усредняются, и по полученной оценке судят о качестве контролируемой поверхности. Усреднение фазы из нескольких интерферограмм позволяет понизить дисперсию ошибки восстановления фазы, вызванную не только случайным шумом, но и неравномерностью покрытия апертуры интерференционными полосами, и неоднородностью источника света. Результаты проведенных модельных экспериментов показывают перспективы применения интерферометрии в нанометрологии высококачественных оптических элементов.
|