Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 1 - 10 из 6123 для dc.subject any/relevant "Методы исследов ... ( 0.218 сек.)

1
Батаев, Владимир Андреевич.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учеб. пособие / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов ; рец.: В. А. Неронов, В. А. Аксенов. — М.: Флинта: Наука, 2007. — 224 с.: ил.; 22 см. — Допущено УМО вузов РФ по образованию в обл. материаловедения, технологии материалов и покрытий в качестве учеб. пособия по дисциплине "Физические методы исследования материалов" для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 (551600) - "Материаловедение и технология новых материалов" и дипломир. специалистов по специальностям 150601 (071000) - "Материаловедение и технология новых материалов" и 150501 (120800) - "Материаловедение в машиностроении". — ISBN 978-5-02-034811-0 (Наука). — ISBN 978-5-9765-0207-9 (Флинта): 302.
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов и преподавателей технических вузов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
2
Металловедение и термическая обработка стали : справочник в трех томах / под ред.: М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. — 3-е изд., перераб. и доп.
: Методы испытаний и исследования. — М.: Металлургия, 1983. — 352 с.: ил. — Библиогр. в конце глав; Предм. указ.: с. 348-352. — 50.00.
Третье издание (второе - в 1962 г.) переработано и дополнено материалами, отражающими современные достижения науки. В первом томе изложены методики современного металловедческого анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, микрорентгеноспектрального. Оже-спектрографии, мессбауэровского и других способов исследования строения металлов и сплавов. Приведены основные положения статистической обработки экспериментальных результатов. Для инженерно-технических и научных работников предприятий, лабораторий и научно-исследовательских организаций различных отраслей промышленности.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
3
Металловедение и термическая обработка стали : справочник ; в трех томах / под ред.: М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. — 4-е изд., перераб. и доп.
:. — М.: Металлургия, 1991. — 304 с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 5-229-00795-8: 0.47.
Четвертое издание, как и третье (1983 г.), состоит из трех томов (каждый из которых - в двух книгах). В книге первой первого тома изложены методики современного металлографического анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, рентгеноспектроскопического, микрорентгеноспектрального, нейтроноструктурного. Даны конкретные рекомендации осуществления этих методик, оценена эффективность их применения. Приведены методы математического планирования, обработки данных и оценки точности результатов. Сообщаются сведения о строении и свойствах элементов. Для инженерно-технических работников и специалистов предприятий и научно-исследовательских организаций металлургической и машиностроительной промышленности.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
4
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2004. — 384 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 210.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
5
Брандон, Дэвид.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2006. — 377 с.: ил.; 24 см. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 168.00.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
6
Аналитическая химия и физико-химические методы анализа : в 2 т. : [учебник для вузов по химико-технологическим направлениям и специальностям]. — М.; : Академия.
:. — М.: Академия, 2010. — 411, [5] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — ISBN 978-5-7695-5817-7. — ISBN 978-5-7695-5818-4: 974.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
7
Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел.
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, 30 мая-2 июня 2011 г., Черноголовка: тезисы докладов / Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (XVII ; 30 мая - 2 июня 2011 г. ; Черноголовка) , Научный совет РАН по электронной микроскопии, Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (Черноголовка), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (М.), Российский фонд фундаментальных исследований (М.), Jeol, ОПТЭК, ООО "Системы для микроскопии и анализа", Oxford Instruments, Bruker, НТ-МДТ, SPECS, Евротек Дженерал, Энерголаб. — Черноголовка: ИПТМ, 2011. — 279 с.: ил.; 21 см. + 1o=эл. опт. диск (CD-ROM). — Библиогр. в конце докл. — ISBN 978-5-89589-054-7: 90.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
8
Маев, Роман Григорьевич.
Акустическая микроскопия: монография / Р. Г. Маев. — М.: Торус Пресс, 2005. — 383 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 326-379. — ISBN 5-94588-031-0: 150.00.
В книге последовательно изложены принципы сканирующей акустической микроскопии - нового перспективного направления в развитии физических методов исследования микроструктуры материалов самой различной природы. Подробно излагаются особенности нового направления. различные применения, преимущества и границы применимости. В книге отражен современный уровень научных исследований в этой области. включая ряд разделов физической акустики и ультразвука, физики твердого тела, характеризации материалов и неразрушающего контроля. Книга рассчитана на широкий круг специалистов, а также может быть использована в качестве учебного пособия для аспирантов и студентов старших курсов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
9
Егорова, Ольга Владимировна.
Техническая микроскопия: Практика работы с микроскопами для технических целей: С микроскопом на "ты" / О. В. Егорова. — 2-е изд., перераб. — М.: Техносфера, 2007. — 360 с.: цв.ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр.: с. 353-357. — ISBN 978-5-94836-129-1: 252.45.
Данная книга представляет собой развитие темы технической микроскопии, поднятой автором в книге "С микроскопом на "ты" (СПб.: Интерлаб, 2000). За прошедшее время произошли изменения в номенклатуре световых микроскопов, появились вопросы, связанные с технологией изготовления, измерения, оценки качества оптических систем и их тестированием. В книге рассмотрены вопросы классификации технических микроскопов, подбора техники для решения задач микроскопических методов исследования образцов, а также вопросы стандартизации и методов контроля качества оптических деталей. Приведены основные формулы микроскопии. Книга предназначена для специалистов-микроскопистов ЦЗЛ, студентов технических вузов, разработчиков оптических систем, менеджеров и маркетологов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
10
Структурно-фазовые состояния и механические свойства толстых сварных швов: монография / В. П. Гагауз [и др.] ; рец.: В. Я. Целлермаер, В. В. Муравьев; Сибирский государственный индустриальный университет (Новокузнецк), Томский государственный архитектурно-строительный университет (Томск), ОАО "Новокузнецкдомнаремонт" (Новокузнецк). — Новокузнецк: СибГИУ, 2008. — 130 с.: ил. — Библиогр.: с. 120-130. — ISBN 978-5-8441-0285-1: 184.00.
Монография посвящена анализу формирования и изменения структуры, фазового состава и механических свойств толстых сварных соединений из стали 091'2С, выполненных различными способами, в зависимости от условий их получения и сроков эксплуатации. Выполнен анализ зеренной и дефектной субструктур и фазового состава толстых сварных швов и обосновано их деление на три закономерно расположенные зоны, характеризующиеся различной кинетикой и термодинамикой формирования градиентных структурно-фазовых состояний на основании анализа результатов комплексных исследований предложен способ диагностики наиболее напряженных участков шва, в которых могут зарождаться трещины. Полученные результаты исследования являются основой прогнозирования времени безопасной эксплуатации сварных соединений и целенаправленного выбора оптимального типа и способа сварки. Д ля неразрушающего контроля состояния сварных швов крупногабаритных конструкций рекомендовано измерение скорости ультразвука. Книга предназначена для специалистов в области физики конденсированного состояния, физического материаловедения, металловедения и термообработки металлов. Может быть полезна аспирантам и студентам старших курсов соответствующих специальностей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи