В сборник вошли 132 работы молодых научных работников и специалистов РФЯЦ-ВНИИЭФ, РФЯЦ-ВНИИТФ, ВНИИА, ОКБМ, НИИИС, НИИИИТ, ГХК, ВНИИНМ, ООО "Саровский Инженерный Центр", НГТУ, Тульского ГУ, СарФТИ, представленных на восьмой научно-технической конференции "Молодежь в науке". Молодыми научными работниками и специалистами представлены доклады по широкому кругу вопросов автоматизированного проектирования сложных систем, технологии создания новых материалов, материаловедения, защиты информации, информационных технологий, промышленной безопасности, экологии и др..

В сборнике приведены актуальные и значительные научные результаты в области оптических анизотропных кристаллов и материалов со свойствами наноструктур. Материалы сборника предназначены для инженеров, научных сотрудников, докторантов, аспирантов и студентов старших курсов.

Метод рентгеноструктурного анализа с использованием асимметричной схемы отражения развит до получения одномерных распределений структурно-чувствительных физических величин по глубине. Из получаемого в эксперименте набора усредненных величин по различным толщинам эффективно отражающего слоя, методика позволяет восстанавливать координатную зависимость этих величин. Методика может быть полезна при изучении физической и химической неоднородностей в поверхностном слое материала, создаваемых закалкой, различными видами поверхностного облучения, поверхностным легированием, наплавкой, нанесением пленок и т. д. В работе она применена для получения распределений по глубине нормальной и касательной микродеформаций, связанных с напряжениями 1-го рода, в подвергнутых электронному облучению образцах никелида титана с плоской поверхностью.