| 616 |
|
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учеб. пособие для вузов / В. Л. Миронов; Рос. АН, Институт физики микроструктур. — М.: Техносфера, 2005. — 144 с.: ил. — (Мир физики и техники). — Библиогр.: с. 140-143. — ISBN 5-94836-034-2: 145.00.
Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур — от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
|
| 617 |
|
Силовая электроника: учеб. для вузов по направлению подгот. "Электротехника, электромеханика и электротехнологии" / Ю. К. Розанов, М. В. Рябчицкий, А. А. Кваснюк. — 2-е изд., стер. — М.: Издательский дом МЭИ, 2009. — 629, [3] с.: ил.; 24 см. — Библиогр.: с. 616-620. — ISBN 978-5-383-00403-6: 715.00.
Рассмотрены принципы действия, типовые характеристики и области рационального применения силовых электронных приборов, а также особенности применения в силовой электронике пассивных элементов — трансформаторов, реакторов и конденсаторов. В доступной форме даны методы анализа схем и управления устройствами силовой электроники, описаны принципы действия и способы управления всех типов преобразователей, а также статических компенсаторов мощности и активных фильтров. Подробно изложены методы широтно-импульсной модуляции на основе преобразования трехфазных импульсных систем в двухфазные. Приведены рекомендации по эксплуатации устройств силовой электроники и обеспечению их электромагнитной совместимости. Для студентов электротехнических специальностей, а также специалистов различного уровня профессиональной подготовки в области силовой электроники.
|
| 618 |
|
Proceedings of ISMTII-2009 : keynote papers, 29 June - 2 July, 2009, Saint-Petersburg. — Saint-Petersburg; : D.S. Rozhdestvensky optical soc.
:. — Saint-Petersburg: D.S. Rozhdestvensky optical soc., 2009. — LXXV,345 p.: ill. — Bibliogr. at the end of the art. — . — Sessions: 1. General problems of Measurement; 2. Micro-Nano-Measurements and Metrology; 3. Optical and X-Ray Tomography and Interferometry. — 310.00.
|
| 619 |
|
Proceedings of ISMTII-2009 : keynote papers, 29 June - 2 July, 2009, Saint-Petersburg. — Saint-Petersburg; : D.S. Rozhdestvensky optical soc.
:. — Saint-Petersburg: D.S. Rozhdestvensky optical soc., 2009. — LXXV,378 p.: ill. — Bibliogr. at the end of the art. — . — Sessions: 4. Measurements for Geometrical and Mechanical Quantites; 5. Terahertz Technologies for Sciences, Industry, Medicine, Biology. — 305.00.
|
| 620 |
|
Proceedings of ISMTII-2009 : keynote papers, 29 June - 2 July, 2009, Saint-Petersburg. — Saint-Petersburg; : D.S. Rozhdestvensky optical soc.
:. — Saint-Petersburg: D.S. Rozhdestvensky optical soc., 2009. — LXXV,438 p.: ill. — Bibliogr. at the end of the art. — . — Sessions: 7. Intelligent Measuring Instruments and Systems for Industry and Transport; 8. Measurements and Metrology for the Humanitarian Fields; 9. Metrology and Characterization of Materials; 10. Education in Measurement Science. — 310.00.
|