Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 31 - 35 из 1656 для dc.subject any/relevant "АСТРОНОМИЧЕСКИЕ ... ( 0.083 сек.)

31
IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing / IEEE Geoscience and Remote Sensing Society. — S.l: IEEE. — Периодичность: 12 в год (ежемесячно). — ISSN 0196-2892.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
32
Философия. Основные идеи и принципы: популярный очерк. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Издательство политической литературы, 1990. — 367, [1] с. — ISBN 5-250-00321-4: 1.30.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
33
Томское профессорское собрание. — Б.м. — [43] с.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
34
Розин, Константин Маркович.
Практическая кристаллография: учебное пособие для вузов / К. М. Розин ; [рец. В. М. Гармаш]; Московский гос. ин-т электроники и математики (ТУ) (М.), кафедра "Материаловедение электронной техники". — М.: МИСИС, 2005. — 488 с.: ил.197. — (Металлургия и материаловедение XXI века: К 75-летию Московского государственного института стали и сплавов (технологического университета)). — Допущено Учебно-методическим объединением по образованию в области металлургии в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 150700 (651800) - Физическое материаловедение и 150100 (651300) - Металлургия. — Библиогр. список: 7 назв. — ISBN 5-87623-116-9: 286.00.
Учебное пособие представляет собой практический курс кристаллографии и кристаллохимии. Приведены практические методы определения символов атомных рядов и атомных плоскостей в кристаллах и кристаллических структурах. Рассмотрены специальные графические методы решения пространственных задач на базе кристаллографической стеки Г. В. Вульфа. Описываются методики определения межплоскостных расстояний в кристаллических структурах на базе обратной пространственной решетки. Рассматриваются методики определения кристаллических структур с помощью координационных многогранников, а также пакетов параллельных атомных плоскостей. Описываются атомные механизмы перестройки кристаллических структур при полиморфных превращениях. Приводятся методики определения атомных дефектов реальных кристаллов: вакансий, дислокаций, дефектов упаковки. Даны методики описания кристаллических структур на базе действующих международных стандартов. Компактно изложенный теоретический материал сопровождается большим количеством примеров и типовых задач с их подробным разбором. Практический курс кристаллографии содержит множество иллюстраций и снабжен определениями важнейших терминов кристаллографии и кристаллохимии. Курс предназначен для студентов и аспирантов металлургических, химико-технологических, политехнических вузов и университетов, а также для научных и инженерно-технических работников, занимающихся вопросами физики твердого тела.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
35
Дикарева, Регина Петровна.
Введение в кристаллофизику. Избранные вопросы: учеб. пособие : [для вузов по специальности 210104 (200100) "Микроэлектроника и твердотел. электроника"] / Р. П. Дикарева ; рец. С. И. Чикичев. — 2-е изд. — М.: Флинта, 2007. — 238 с.: ил.; 22 см. — Библиогр.: с. 207. — ISBN 978-5-02-034799-1 (Наука). — ISBN 978-5-9765-0205-5 (Флинта): 335.
В пособии изложены основы классической кристаллографии, приведены математические методы описания структуры кристаллов, основные сведения о физических и химических несовершенствах полупроводниковых материалов. Основное внимание уделено кристаллам кубической системы. Рассмотрен одни из методов ориентации кристаллов - метод световых фигур. Описаны свойства различных видов дислокаций и методы их исследования. В приложении дан задачник по основным разделам пособия с примерами решения. Для студентов и преподавателей технических вузов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи