716 |
|
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; отв. ред. И. Л. Шульпина. — СПб.: Наука, 2002. — 274 с.: 147 ил. — Парал. тит. лист англ. — Предм. указ.: с. 271-274. — Библиогр.: с. 269-270. — ISBN 5-02-024963-7.
|
717 |
|
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00.
|
718 |
|
Применение электронной спектроскопии в физико-химии многокомпонентных стохастических смесей и сложных молекулярных систем / М. Ю. Доломатов; Башкирский научно-исследовательский институт по переработке нефти. — Уфа, 1989. — 47, [1] с.: табл. — Библиогр.: с. 42-47.
|
719 |
|
Маркировка и обозначение радиоэлементов: Системы цветовой и буквенно-цифровой маркировки отечественных и зарубежных электронных элементов : справ. / В. В. Мукосеев, И. Н. Сидоров. — М.: Горячая линия - Телеком, 2001. — 352 с.: ил. — (Массовая радиобиблиотека). — ISBN 5-93517-006-X: 111.55.
|
720 |
|
Резисторы, конденсаторы, провода, припои, флюсы: справ. пособие / А. И. Аксенов, А. В. Нефедов. — М.: СОЛОН-Р, 2000. — 240 с.: ил. — (Ремонт). — ISBN 5-93455-053-5: 95.00.
|