Четвертое издание, как и третье (1983 г.), состоит из трех томов (каждый из которых - в двух книгах). В книге первой первого тома изложены методики современного металлографического анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, рентгеноспектроскопического, микрорентгеноспектрального, нейтроноструктурного. Даны конкретные рекомендации осуществления этих методик, оценена эффективность их применения. Приведены методы математического планирования, обработки данных и оценки точности результатов. Сообщаются сведения о строении и свойствах элементов. Для инженерно-технических работников и специалистов предприятий и научно-исследовательских организаций металлургической и машиностроительной промышленности.

Очередной том серии справочных изданий "Металлы и сплавы" посвящен разрешению практически важной проблемы улучшения эксплуатационных качеств материалов, таких ка прочность, пластичность, трещиностойкость и др., на основе использования современных физико-аналитических средств и методов контроля структурно-механического состояния материалов на всех стадиях производства, начиная с выплавки металла. Дано краткое изложение концептуальных идей российской научной материаловедческой школы в практической реализации взаимосвязей "химический состав-структура-технология-свойства" на базе достижений фундаментальной науки об определяющей роли многосвязной полимасштабной иерархической соподчиненности ансамблей дефектов кристаллического строения в изменчивости характеристик металлов и сплавов. Приведены справочные данные, необходимые для анализа и классификации неметаллических включений, выявления и анализа структуры металлов и сплавов на макро-, мезо- и микроскопическом масштабных уровных. Издаваемый том предназначен для научных и инженерно-технических работников, специализирующихся в области материаловедения, диагностики разрушения и оценки металлургического качества металла. Книга будет полезна для аспирантов и студентов металлургических, машиностроительных и политехнических вузов.

Книга посвящена описанию основных физических принципов, структур и методов моделирования, а также тенденций развития современной и перспективной кремниевой наноэлектроники с технологическими нормами менее 100 нм. Для преподавателей и студентов. специализирующихся по направлениям микро- и наноэлектроники, электроники, электронных измерительных систем. Может быть использована в учебном процессе при подготовке учебных курсов "Физические основы наноэлектроники", "Наноэлектронные технологии", "Физика микроэлектронных структур".

Перевод английского издания известного вводного курса теории и техники измерений, основанного на едином системном подходе к электрическим, тепловым, механическим измерениям. Учебное пособие для студентов и преподавателей естественно-научных и технических университетов, специалистов по метрологии, датчикам, приборостроению и системам управления.