| 1 |
|
Методика электронной микроскопии / Г. Шиммель ; пер. с нем. А. М. Розенфельда, М. Н. Спасского, под ред. В. Н. Рожанского. — М.: Мир, 1972. — 299, [1] с.: ил. — Предм. указ.: с. 294-297. — Библиогр.: с. 285-292. — 1.62.
|
| 2 |
|
Кинетика процессов в плазме разряда накачки XeCl лазера и их влияние на характеристики излучения: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.13 / С. А. Ямпольская ; науч. рук. А. Г. Ястремский; Институт сильноточной электроники (Томск). — Томск, 2007. — 125 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 103-109.
|
| 3 |
|
Кинетика процессов в плазме разряда накачки XeCl лазера и их влияние на характеристики излучения: автореферат дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.13 / С. А. Ямпольская ; науч. рук. А. Г. Ястремский, офиц. оппоненты: В. М. Климкин, Э. А. Соснин; Институт сильноточной электроники (Томск). — Томск, 2007. — 19 с. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 18-19.
|
| 4 |
|
Комбинаторная теория групп / Р. Линдон, П. Шупп ; пер. с англ. Ю. А. Бахтурина ; под ред. В. Н. Ремесленникова, В. А. Романькова. — М.: Мир, 1980. — 447 с. — Парал. тит. лист англ. — Библиогр.: с. 394-441/ - Указ. терминов: с. 443-445. — 2.80.
|
| 5 |
|
Тензорный анализ для физиков = TENSOR ANALYSIS FOR PHYSICISTS / Я. А. Схоутен ; пер. с англ. и дополнение И. А. Кунина. — М.: Наука, 1965. — 455, [1] с.: ил., табл. — Предм. указ.: с. 451-455. — Библиогр.: с. 444-450. — 1.25.
|