| 31 |
|
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие для вузов / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой. — М.: Техносфера, 2006. — 377 с.: ил.; 24 см. — (Мир материалов и технологий). — Предм. указ.: с. 376-377. — Библиогр. в конце гл. — ISBN 5-94836-018-0: 168.00.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
|
| 32 |
|
Физика твердого тела. Лабораторный практикум : учеб. пособие для вузов : в 2-х т. — М.; : Высшая школа.
: Физические свойства твердых тел / А. Н. Сысоев [и др.] ; под ред. А. Ф. Хохлова. — 2-е изд., исправ. — М.: Высшая школа, 2001. — 484 с.: ил. — ISBN 5-06-004022-4: 118.50.
|
| 33 |
|
Импульсные лазеры на плотных газах : физика процессов и экспериментальная техника: учеб. пособие / В. Ф. Тарасенко, Б. Н. Пойзнер ; под ред. В. Г. Багрова; Томский государственный университет им. В. В. Куйбышева. — Томск: Издательство Томского университета, 1992. — 142 с.: ил. — Библиогр.: с. 130-138. — ISBN 5-7511-0302-5.
|
| 34 |
|
Физико-химические основы материаловедения / Г. Готтштайн; пер. с англ. К. Н. Золотовой, Д. О. Чаркина под ред. В. П. Зломанова. — М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2009. — 400 с.: ил.; 25 см. — (Лучший зарубежный учебник). — Библиогр.: с. 375-383. — ISBN 978-5-94774-769-0: 356.40.
В учебном пособии, написанном известным специалистом из Германии, имеющим многолетнюю преподавательскую практику, изложены основы современного материаловедения. При этом в полной мере использованы фундаментальные понятия, представления и закономерности из других областей знаний - физики, химии, математики, а также кристаллографии и металлургии. Рассмотрены различные модели, в том числе на основе фазовых диаграмм и теории химической связи. Большое внимание уделено применению термодинамических подходов при изучении материалов. Подробно обсуждаются теория дефектов в кристаллических твердых телах, процессы кристаллизации и рекристаллизации, способы управления составом композиционных материалов, структурная организация в стеклах и полимерах. Книга очень хорошо иллюстрирована. Для студентов и аспирантов университетов, а также других вузов, готовящих специалистов в области наук о материалах.
|
| 35 |
|
Молекулярная электроника и углеродные наноструктуры: [учеб. пособие для вузов по направлению подгот. 140400 "Техн. физика"] / И. Б. Захарова, Т. Л. Макарова ; рец.: В. А. Мошников, В. И. Ильин; Санкт-Петербургский государственный политехнический университет (СПб.). — СПб.: Изд-во Политехн. ун-та, 2008. — 122 с.: ил.; 20 см. — (Инновационная образовательная программа Санкт-Петербургского государственного политехнического университета / Федер. агентство по образованию) ; (Приоритетный национальный проект). — Приоритетный национальный проект "Образование". Инновационная образовательная программа СПб. гос. политехнического ун-та "Развитие политехнической системы подготовки кадров в инновационной среде науки и высокотехнологичных производств Северо-Западного региона России". — Библиогр.: с. 122. — ISBN 978-5-7422-2107-4: 280.50.
Обобщены результаты ведущихся в мире интенсивных исследований в области молекулярной электроники, рассмотрены основные физические свойства и электронное строение молекулярных материалов и углеродных наноструктур, основные принципы создания приборов молекулярной электроники. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям и специальностям в области техники и технологии при изучении дисциплин "Микроэлектроника", "Микро- и оптоэлектроника", "Наноэлектроника", "Физика полимеров и неупорядоченных диэлектриков", "Физика структур пониженной размерности", "Физика сенсорных материалов и устройств", и может быть также использовано аспирантами, инженерами и научными работниками, специализирующимися в области микро- и наноэлектроники, материаловедения.
|