Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 176 - 180 из 6247 для dc.subject any/relevant "УПРУГИЕ СВОЙСТВ ... ( 0.347 сек.)

176
Технология тонких пленок : Справочник / под ред. Л. Майссела, Р. Глэнга, пер. с англ. М. И. Елинсона, Г. Г. Смолко. — М.; : Советское радио.
:. — М.: Советское радио, 1977. — 764, [4] с.: ил. — Библиогр. в конце глав. — 4.45.
Справочник по технологии тонких пленок - наиболее современное и фундаментальное издание, посвященное тонким пленкам твердых веществ, находящим широкое применение в микроэлектронике, оптике, магнитной технике, СВЧ и космической технике и др. Справочник издается в двух томах. В т. 1 включены гл. 1-7, в т. 2 гл. 8-21. В т. 2 справочника рассмотрены особенности тонких пленок: их рост и структура, методы её исследования, толщина и химический состав пленок, а также зависимость их структуры от технологии. Излагаются физические свойства полупроводниковых диэлектрических, ферромагнитных, пьезоэлектрических и сверхпроводящих пленок и зависимость параметров пленок от технологии. Отражены также основные направления применения тонких пленок в интегральных микросхемах, СВЧ устройствах, создания дискретных электронных элементов. Книга является универсальным справочным пособием для широкого круга инженеров и конструкторов радиоэлектронной аппаратуры, разработчиков интегральных микросхем и радиоэлектронных элементов, научных работников, аспирантов и студентов, специализирующихся в области микроэлектроники, физики и технологии изготовления тонких пленок.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
177
Mattox, Donald M.
Handbook of physical vapor deposition (PVD) processing / D. M. Mattox. — 2nd ed. — Amsterdam; Boston; Heidelberg; Oxford: Elsevier: William Andrew, 2010. — XLVI,746 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr. at the end of the chapters. — Схема доступа: http://www.spsl.nsc.ru/Fulltext/CAT/12-12-04\handbook of physical vapor.html. — ISBN 978-0-815-52037-5: 5762.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
178
Рид, С. Дж. Б.
Электронно-зондовый микроанализ / С. Дж. Б. Рид ; пер. А. И. Козленкова. — М.: Мир, 1979. — 423 с.: ил. — Предм. указ.: с. 412-416. — Библиогр.: с. 401-411. — 3.70.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
179
Панин, Алексей Викторович.
Роль локальной кривизны внутренних и внешних границ раздела в процессах массопереноса, обусловливающих деградацию тонких пленок: научное издание / А. В. Панин, А. Р. Шугуров; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Физическая мезомеханика. — 2013. — Том16, N3 . — С. 95-101. — ISSN 1029-9599.
Методами атомно-силовой и сканирующей электронной микроскопии исследованы механизмы деградации тонких пленок в процессе термического отжига. Выявлены основные факторы, оказывающие влияние на развитие процессов массопереноса в многослойных структурах при повышенных температурах. Показано, что кривизна поверхности и внутренних границ раздела является движущей силой массопереноса, обусловливающего распад тонких пленок, перераспределение легирующих элементов и образование силицидов.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
180
Сочугов, Николай Семенович.
Ионно-плазменное оборудование и процессы нанесения тонкопленочных функциональных покрытий на подложки большой площади: дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.02 / Н. С. Сочугов ; науч. конс. Н. Н. Коваль; Институт сильноточной электроники СО РАН. — Томск, 2012. — 405 с.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 379-405.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи