Сводный электронный каталог

научно-технических библиотек Томского научного центра СО РАН

Результат поиска

Результаты: 91 - 100 из 5434 для dc.subject any/relevant "СВЕРХПРОВОДЯЩИЕ ... ( 0.797 сек.)

91
Захарова, Галина Геннадьевна.
Закономерности формирования гетерофазных субмикрокристаллических состояний и физико-механических свойств при интенсивной пластической деформации сталей с различным фазовым составом: дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 / Г. Г. Захарова ; науч. рук. Е. Г. Астафурова; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск). — Томск, 2012. — 141 л.: ил. — На правах рукописи. — Библиогр.: с. 127-141.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
92
Шугуров, А. Р.
Исследование гальванических покрытий AuNi и AuCo методом склерометрии : научное издание / А. Р. Шугуров, А. В. Панин, Е. В. Шестериков; Институт физики прочности и материаловедения СО АН СССР (Томск) // Письма в журнал технической физики / Рос. акад. наук, Отделение физических наук РАН, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе. — 2011. — Том37, N5 . — С. 64-71. — ISSN 0320-0116.
Методами склерометрии и атомно-силовой микроскопии исследованы механизмы износа гальванических покрытий AuNi и AuCo. Показано, что царапание при малых нагрузках может использоваться для сравнительного анализа износостойкости при абразивном износе металлических покрытий. Установлено, что развитый рельеф поверхности, обусловленный формированием агломератов зерен, обеспечивает более высокую износостойкость покрытий AuCo по сравнению в гладкой поверхностью покрытий AuNi за счет диссипации упругой энергии контактного взаимодействия индентора с поверхностью образца.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
93
Шугуров, А. Р.
Вязкоупругое гофрирование системы металлическая пленка - полимерный подслой под действием сжимающих напряжений: научное издание / А. Р. Шугуров, А. И. Козельская, А. В. Панин // Письма в журнал технической физики / Рос. акад. наук, Отделение физических наук РАН, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе. — 2011. — Том37, N19 . — С. 16-22. — ISSN 0320-0116.
Методом атомно-силовой микроскопии исследованы закономерности гофрирования тонких пленок Al на подложке Si с подслоем полистирола при термическом воздействии. Измерение амплитуды и длины волны складок позволило выявить стадийность процесса гофрирования при различных температурах. Показано, что эволюция складок гофра в процессе отжига регулируется периодическим распределением нормальных и касательных напряжений вдоль границы раздела пленка-подслой.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
94
Горелик, Семен Самуилович.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов по направлениям 550500-Металлургия, 651300-Металлургия, 651800-Физ. материаловедение / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. — 4-е изд., перераб. и доп. — М.: МИСИС, 2002. — 360 с.: ил. — ISBN 5-87623-096-0: 110.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
95
Добровольский, Глеб Всеволодович.
Растровая электронная микроскопия почв [Текст] / Г.В. Добровольский, С.А. Шоба. — М.: Изд-во Моск. ун-та, 1978. — 141, [3] с.: ил. — Библиогр.: с. 132-142. — 1.80.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
96
Egerton, Ray.
Physical principles of electron microscopy: an introd. to TEM, SEM, a. AEM / R. F. Egerton. — New York: Springer, 2005. — XII,202 p.: ill.; 24 cm. — Bibliogr.: p. 195-196. — ISBN 978-0-387-25800-3: 180.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
97
Температурная микроскопия металлов и сплавов: научное издание / Государственный научно-исследовательский институт машиноведения АН СССР; отв. ред. М. Г. Лозинский. — М.: Наука, 1974. — 143 с.: ил. — 0.62.
В сборнике освещены вопросы совершенствования методов и аппаратуры для микроструктурного исследования процессов деформации и разрушения металлических материалов. Приведены результаты изучения корреляционных зависимостей между структурным состоянием и механическим поведением промышленных сталей и сплавов некоторых тугоплавких материалов. Рассчитано на исследователей и практиков металловедов, металлофизиков, металлургов, конструкторов, машиностроителей.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
98
Пантелеев, В. Г.
Компьютерная микроскопия / В. Г. Пантелеев, В. Г. Егорова, Е. Н. Клыкова. — М.: Техносфера, 2005. — 304 с.: ил. — (Мир материалов и технологий). — Библиогр.: с. 302-303. — ISBN 5-94836-025-3: 210.00.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
99
Суворов, Александр Леонидович.
Дефекты в металлах / А. Л. Суворов ; отв. ред. В. Н. Рожанский, рецензенты : Л. И. Иванов, В. В. Кирсанов. — М.: Наука, 1984. — 176 с.: граф. — (Наука и технический прогресс). — Библиогр.: с. 175-176. — 0.60.
Дана характеристика металлов, их наиболее важных свойств. Рассмотрены основные типы и параметры дефектов кристаллической структуры металлов и сплавов, условия их возникновения и удаления. Показано, как эти дефекты влияют на различные свойства металлов, как можно предупредить или изменить это влияние. Описаны созданные к настоящему времени методы прямого микроскопического наблюдения дефектов различного типа, их косвенной регистрации. Доктор физико-математических наук А. Л. Суворов - специалист в области физики радиационного дефектообразования и микроскопического исследования дефектов в металлах, автор многих работ на эту тему.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи
100
Влияние размера зерна на упрочнение сплава ВТ1-0 имплантированного ионами алюминия: научное издание / А. В. Никоненко, Н. А. Попова, М. П. Калашников; Институт физики прочности и материаловедения СО РАН (Томск) // Фундаментальные проблемы современного материаловедения : науч. журн. / Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова. — 2014. — Том11, N4 . — С. 437-443. — ISSN 1811-1416.
Методом просвечивающей дифракционной электронной микроскопии проведены исследования микроструктуры и фазового состава титанового става ВТ1-0, имплантированного ионами алюминия. Исследования выполнены на зернах двух типов; 1) крупные зерна (dcp = 1.4 мкм) и 2) мелкие зерна (dcp = 0.5 мкм). Рассчитана величина упрочнения для разного типа зерен по глубине ионно-легированного слоя.
Детальное описание | Добавить в корзину | Похожие записи